一种通过机械加电解抛光制备微型EBSD试样的方法

    公开(公告)号:CN111289317A

    公开(公告)日:2020-06-16

    申请号:CN201811500814.6

    申请日:2018-12-10

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种通过机械加电解抛光制备微型EBSD试样的方法,该方法通过将微型试样镶到镶样的中心形成较大尺寸的镶样样品,进行机械抛光后利用取样平台取出微型试样,再利用专用夹持镊子将微型试样置于酸性电解抛光液中进行特殊的电解抛光,清洗吹干后获得金属材料的微型EBSD试样。该方法主要解决了微型试样的难研磨、难抛光的问题,也解决了微型试样在电解抛光过程中试样紧固的问题,更通过特殊电解方法解决了微型试样难电解抛光的问题。该方法操作简单,制备效率高,制样效果优异,样品解析率达90%以上,且适用范围广,适合推广应用。

    一种观察锆合金纳米第二相的电化学腐蚀方法

    公开(公告)号:CN109459455A

    公开(公告)日:2019-03-12

    申请号:CN201910025328.1

    申请日:2019-01-11

    Abstract: 本发明的目的是提供一种能够准确、清晰显示锆合金中纳米第二相的电化学腐蚀方法,以达到在扫描电子显微镜下观察、统计锆合金中第二相的目的。该方法采用特殊的电化学腐蚀剂,以锆合金试样作为阳极,不锈钢片作为阴极,采用液氮进行降温后进行电化学腐蚀,最终可在扫描电子显微镜下观察第二相。该方法操作简单,可以准确、快速、清晰的显示锆合金中纳米尺寸第二相的形貌特征、尺寸大小以及分布特征,解决了现有TEM技术在锆合金纳米第二相研究上存在制样复杂、操作困难、观察局限性的问题。

    一种制备薄壁管材压平测织构试样的方法及专用装置

    公开(公告)号:CN111175325B

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202010145648.3

    申请日:2020-03-05

    Abstract: 一种制备薄壁管材压平测织构试样的方法及专用装置,所述方法包括先将承载件水平放置,在承载件上放置调节件,在长方形凹槽上放置薄壁管材试样;其次,在长方形凹槽上放置施压件,施压端紧贴薄壁管材试样;再次,施压件、承载件和调节件整体保持为长方体结构,再在外层用铜导电胶将它们固定在一起;最后,为保证薄壁管材试样压平前后厚度一致,整个压平过程在Gleeble热模拟试验机上进行,以精确设置和控制温度、应变量、应变速率等条件。本发明具有结构简单、功能多样、易于操作、成本低和适用性广等优点,其技术方案规范合理,技术效果优良,具有可预期的较为巨大的经济价值和社会价值。

    一种用于薄壁管材腐蚀减薄或酸洗的装置

    公开(公告)号:CN112376065B

    公开(公告)日:2024-07-30

    申请号:CN202011370696.9

    申请日:2020-11-30

    Abstract: 一种用于薄壁管材腐蚀减薄或酸洗的装置,该装置由腐蚀容器、密封件、薄壁管材试样和腐蚀溶液组成;腐蚀容器由固定板、底板、活动挡板和顶盖组成,固定板上设有滑槽,活动挡板上设有与滑槽相配合的滑块,通过移动活动挡板在滑槽中的位置来调节薄壁管材减薄的预腐蚀段长度;密封件为空心管状结构,且可通过选择调整密封件的壁厚来适用不同外径的薄壁管材试样,两个密封件间的距离为薄壁管材试样减薄的预腐蚀段长度;腐蚀容器、密封件和薄壁管材试样组合在一起后,在腐蚀容器内盛放腐蚀溶液。本发明具有结构简单、功能多样、易于操作、成本低和适用范围广等优点,其技术方案规范合理,技术效果优良,具有可预期的较为巨大的经济价值和社会价值。

    通过EBSD技术提取晶体中特定晶面的方法

    公开(公告)号:CN111220633B

    公开(公告)日:2022-09-16

    申请号:CN201811416039.6

    申请日:2018-11-26

    Abstract: 本发明的目的在于提供通过EBSD技术提取晶体中特定晶面的方法,包括以下步骤:1)制备EBSD样品;2)对EBSD样品进行扫描,获得选定的观察面的不同取向晶面的信息;3)通过CHANNEL5软件处理EBSD系统获取的不同取向晶面的信息:先通过软件得出该晶体的IPF图;再导出极图和反极图,选定我们要抽取那种类型晶面的极图,观察要抽出的晶面极图中心内晶粒的颜色,确定该晶面相对应的颜色表示;最后用本申请所叙述的方法提取出晶体中某种类型的晶面。通过该方法可以分析晶体内某种特殊晶面的尺寸、分布,对晶体枳构,晶体氧化腐蚀等方面的影响;同时,通过EBSD原位观察,实现不同热处理后,某些特殊晶面单独抽取,能够了解特殊晶面的形成、长大过程随温度的变化。

    一种通过EBSD技术计算材料氧化膜底部晶面取向的方法

    公开(公告)号:CN110133022B

    公开(公告)日:2021-12-21

    申请号:CN201910293624.X

    申请日:2019-04-12

    Abstract: 一种通过EBSD技术计算材料氧化膜底部晶面取向的方法。该方法主要根据计算晶面的样品坐标方向,结合EBSD系统中样品坐标系与晶体坐标系的转换关系,以及通过晶面法向量公式计算与转化,最终获得与观察晶面垂直的晶面取向信息。该方法计算过程如下步骤:先制备氧化膜与基体的EBSD样品。在带有EBSD探头的扫描电镜进行EBSD测试,最终获得基体的晶体取向信息‑欧拉角信息;通过EBSD系统配套的CHANNEL5软件获得基体中晶粒的IPF图,通过测量软件测定与氧化膜接触的晶粒在样品坐标系下的法向。然后根据测定晶粒的欧拉角信息,通过样品坐标系与晶体坐标系的矩阵转换关系,最终得出垂直该晶粒的晶面的法向量。

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