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公开(公告)号：CN109243945B
公开(公告)日：2020-04-03
申请号：CN201810972834.7
申请日：2018-08-24
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种带电粒子光学成像元件，具体涉及一种瓣状电极及制造方法、产生均匀电场的方法、构成的变像管。为解决保持系统总体性能功能指标不变的条件下，变像管尺寸难以缩小的技术问题，本发明提供了一种瓣状电极及制造方法、产生均匀电场的方法、变像管。一种瓣状电极，由沿圆周方向分为8n个沿同一圆周间隔、均匀设置的电极瓣构成；产生均匀电场的方法，对各电极瓣电压按规律设定后可产生均匀电场。本发明还包括一种变像管，所述变像管由沿光路依次设置的光阴极、栅网、聚焦电极、上述瓣状电极和荧光屏组成。本发明可应用于变像管条纹相机，同时实现对电子束的聚焦和偏转，可有效的降低变像管中电极的数量，减小其尺寸。
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公开(公告)号：CN108205184B
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201711463182.6
申请日：2017-12-28
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G02B7/182
Abstract: 本发明涉及一种集成化摆镜装调方法。通过摆镜转轴上的小反射镜将摆镜转轴的转动轴引出来，并转移到摆镜立方镜‑X面的法线上，然后利用摆镜立方镜自身六个面的高精度形位公差，可以将可见反射镜和红外反射镜的位置装配简化到两块反射镜的法线和摆镜精测镜+Z、‑Y面法线指向一致性的问题。本发明可以大大降低该摆镜的装配难度以及摆镜在系统中的装配难度。
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公开(公告)号：CN109378103A
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201811375963.4
申请日：2018-11-19
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G21K1/087
Abstract: 本发明提出一种电子束整形器。该电子束整形器包括一圆柱型空腔；所述圆柱型空腔的侧面为导电材料；所述圆柱型空腔的一个端面为电介质，并在圆柱型空腔轴心位置留一小孔，供电子脉冲进入；基于电介质在所述小孔的内壁涂有导电膜作为电极施以正电位U0；所述电介质的绝对介电常数沿径向变化；圆柱型空腔的另一端面由导电材料的栅网组成，供电子脉冲输出；所述栅网和圆柱型空腔的侧面均接地以保持0电位。本发明可同时实现电子束波前和径向的整形，因而其调制整形效率较高；功能场为静电场，结构操作简单，更具工程实用性和可操作性；可实现较高的加工精度和组装精度，可与其他相关电子束产生系统进行无缝对接。
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公开(公告)号：CN108205184A
公开(公告)日：2018-06-26
申请号：CN201711463182.6
申请日：2017-12-28
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G02B7/182
Abstract: 本发明涉及一种集成化摆镜装调方法。通过转轴上的小反射镜将转轴的转动轴引出来，并转移到摆镜立方镜‑X面的法线上，然后利用摆镜立方镜自身六个面的高精度形位公差，可以将可见反射镜和红外反射镜的位置装配简化到两块反射镜的法线和摆镜精测镜+Z、‑Y面法线指向一致性的问题。本发明可以大大降低该摆镜的装配难度以及摆镜在系统中的装配难度。
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公开(公告)号：CN103542790B
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201310488807.X
申请日：2013-10-17
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01B5/02
Abstract: 本发明涉及一种可实现离轴反射镜离轴量精确测量的系统及方法，该系统包括成像测量装置、立式转台、连接板、二维平移台以及光栅尺；二维平移台通过连接板设置在立式转台上并随立式转台绕立式转台的旋转轴进行旋转；待测离轴反射镜设置在二维平移台上并在二维平移台上进行二维运动；光栅尺的一端固定在连接板上，另一端止靠在平移台上；成像测量装置的光轴与立式转台的转轴是重合的。本发明提供了一种测量精度高的可实现离轴反射镜离轴量精确测量的系统及方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104977690A
公开(公告)日：2015-10-14
申请号：CN201510353782.1
申请日：2015-06-24
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明涉及空间俯仰、方位两维微量调整工装，包括调整螺钉、外螺纹套筒、上球头滑块以及下球头滑块，所述外螺纹套筒、上球头滑块以及下球头滑块均套装在调整螺钉上，所述上球头滑块位于外螺纹套筒的一端，所述下球头滑块位于外螺纹套筒的另一端。为了解决现有的确定非球面反射镜光轴基准的方法导致基准改变等的技术问题，本发明利用球头滑块和外螺纹套的相对滑动控制姿态，不会产生局部应力，基准十字丝不会产生变形，且拆卸方便。
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公开(公告)号：CN107957296B
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201711467125.5
申请日：2017-12-28
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种星载大孔径静态干涉光谱成像仪干涉图采样方法。本发明针对大孔径静态干涉光谱成像技术原理特点，提出了降低干涉图采样频率、探测器倍频采样的干涉图采样方法。本发明解决了大孔径静态干涉光谱成像仪在高空间分辨率成像时由于瞬时视场角降低，使得系统入射能量降低，导致系统信噪比降低的技术问题，实现了同一目标积分时间延长的效果，从而提高了系统信噪比。
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公开(公告)号：CN105157578B
公开(公告)日：2017-09-22
申请号：CN201510404819.9
申请日：2015-07-10
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种测量离轴抛物面主反射镜离轴量和离轴角的系统及方法，该系统包括光轴标杆A、光轴标杆B、自准直经纬仪A、自准直经纬仪B、自准直经纬仪C、干涉仪、平面反射镜和小平面镜；自准直经纬仪A、光轴标杆A、光轴标杆B和自准直经纬仪B依次处于同一光轴上；自准直经纬仪B与自准直经纬仪C处于同一光轴上；待测离轴反射镜置于自准直经纬仪B与自准直经纬仪C之间；小平面镜贴附在待测离轴反射镜上；干涉仪的焦点与待测离轴反射镜的焦点重合；干涉仪发出的球面波经待测离轴反射镜反射后形成反射光；平面反射镜置于反射光所在光路上。本发明提供了一种可对离轴反射镜的离轴量和离轴角进行精确测量的系统及方法。
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公开(公告)号：CN209312449U
公开(公告)日：2019-08-27
申请号：CN201821902464.1
申请日：2018-11-19
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G21K1/087
Abstract: 本实用新型提出一种电子束整形器。该电子束整形器包括一圆柱型空腔；所述圆柱型空腔的侧面为导电材料；所述圆柱型空腔的一个端面为电介质，并在圆柱型空腔轴心位置留一小孔，供电子脉冲进入；基于电介质在所述小孔的内壁涂有导电膜作为电极施以正电位U0；所述电介质的绝对介电常数沿径向变化；圆柱型空腔的另一端面由导电材料的栅网组成，供电子脉冲输出；所述栅网和圆柱型空腔的侧面均接地以保持0电位。本实用新型可同时实现电子束波前和径向的整形，因而其调制整形效率较高；功能场为静电场，结构操作简单，更具工程实用性和可操作性；可实现较高的加工精度和组装精度，可与其他相关电子束产生系统进行无缝对接。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN204854637U
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201520498859.X
申请日：2015-07-10
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本实用新型涉及一种测量离轴抛物面主反射镜离轴量和离轴角的系统，该系统包括光轴标杆A、光轴标杆B、自准直经纬仪A、自准直经纬仪B、自准直经纬仪C、干涉仪、平面反射镜和小平面镜；自准直经纬仪A、光轴标杆A、光轴标杆B和自准直经纬仪B依次处于同一光轴上；自准直经纬仪B与自准直经纬仪C处于同一光轴上；待测离轴反射镜置于自准直经纬仪B与自准直经纬仪C之间；小平面镜贴附在待测离轴反射镜上；干涉仪的焦点与待测离轴反射镜的焦点重合；干涉仪发出的球面波经待测离轴反射镜反射后形成反射光；平面反射镜置于反射光所在光路上。本实用新型提供了一种可对离轴反射镜的离轴量和离轴角进行精确测量的系统。
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