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公开(公告)号：CN111257411B
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202010255195.X
申请日：2020-04-02
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
Abstract: 本申请提供一种液氦及超流氦温区绝缘材料高压电气性能测试平台，其包括由外及内逐层嵌套设置的真空腔室、一级测试腔室和二级测试腔室；采用制冷机为一级测试腔室中的液氦温区测试平台提供冷量可实现4.2K温区使用条件下的绝缘材料的测试需求，以及将二级测试腔室与液氦温区测试平台接触、通入氦气、采用制冷机为液氦温区测试平台提供冷量，通入氦气冷凝腔中的氦气在制冷机的作用下液化，以及通过节流阀和抽气减压管路将液化的氦气转化为超流氦输出至超流氦腔中为二级测试腔室中的超流氦区测试平台提供冷量可实现1.8K温区使用条件下的绝缘材料的测试需求。
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公开(公告)号：CN108614007B
公开(公告)日：2020-08-25
申请号：CN201810585008.7
申请日：2018-06-08
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明公开一种多层绝热材料和复合绝热材料性能测试装置，包括：低温装置、辐射冷屏和量热器，低温装置包括形成容纳腔的真空罩和具有一级冷头与二级冷头的制冷机，一级冷头和二级冷头位于真空罩的内部；辐射冷屏位于一级冷屏和二级冷屏之间；量热器包括悬置于真空罩内部且与一级冷头通过铜辫子热连接的一级冷屏、位于一级冷屏内部的二级冷屏、以及一端与二级冷头连接、另一端与二级冷屏内侧表面连接的导热棒；被测多层绝热材料包覆在二级冷屏的外侧面，测量通过导热棒的热流量得出被测多层绝热材料的绝热性能。本发明能有效解决现有复合多层绝热材料性能测试系统通过低温液体蒸发速率测试表观热导率所引起的资源浪费、测试误差大的问题。
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公开(公告)号：CN108562612A
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：CN201810607814.X
申请日：2018-06-13
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明公开了一种用于低温辐射性能测试的样品杆装置及测试设备。其中样品杆装置包括真空管，真空罩体，悬置在真空罩体容腔内的导热板以及放置在导热板板面上的样品组件；样品组件包括稳温端底座，发射端顶座以及屏蔽罩体；稳温端底座、发射端顶座以及屏蔽罩体形成有容纳腔；样品组件还包括有悬置于所述容纳腔内的吸收端样品件以及发射端样品件。本发明提供的样品杆装置可实现低温环境下不同材料的样品件的吸收率和发射率的测试；此外本发明提供的测试设备，通过以制冷机为冷源的低温装置与样品杆装置的配合，使得低温环境下对不同材料的样品件的吸收率和发射率的测试操作更简便，测试的可靠性及效率更高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106442895B
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201611042824.0
申请日：2016-11-21
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
IPC: G01N33/00
Abstract: 本发明公开了一种用于测试气体低温吸附性能的测试装置，包括低温装置、气体吸附仪和进气管路；低温装置包括制冷机、设置在制冷机二级冷头上的用于放置测试用样品的样品腔、罩设在制冷机二级冷头及样品腔外的屏蔽罩及罩设在所述屏蔽罩外使制冷机一级冷头、制冷机二级冷头和样品腔处在真空环境下的真空罩；所述样品腔通过输气管路与所述气体吸附仪内吸附仪参考腔连接。本发明所提供的测试装置以制冷机作为冷源，其解决了现有技术中气体低温吸附性能测试装置对低温液体的过分依赖，导致实验操作复杂，造成作为低温液体的原材料大量浪费的问题。
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公开(公告)号：CN206177929U
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201621262738.6
申请日：2016-11-21
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
IPC: G01N33/00
Abstract: 本实用新型公开了一种用于测试气体低温吸附性能的测试装置，包括低温装置、气体吸附仪和进气管路；低温装置包括制冷机、设置在制冷机二级冷头上的用于放置测试用样品的样品腔、罩设在制冷机二级冷头及样品腔外的屏蔽罩及罩设在所述屏蔽罩外使制冷机一级冷头、制冷机二级冷头和样品腔处在真空环境下的真空罩；所述样品腔通过输气管路与所述气体吸附仪内吸附仪参考腔连接。本实用新型所提供的测试装置以制冷机作为冷源，其解决了现有技术中气体低温吸附性能测试装置对低温液体的过分依赖，导致实验操作复杂，造成作为低温液体的原材料大量浪费的问题。
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公开(公告)号：CN207718986U
公开(公告)日：2018-08-10
申请号：CN201820021809.6
申请日：2018-01-05
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
Abstract: 本实用新型公开了一种环氧拉环及制作该环氧拉环的模具，所述环氧拉环包括第一环体、与所述第一环体相对设置且不相接触的第二环体、及固定套设在第一环体和第二环体上的环状绝缘带；所述第一环体的周向侧壁上和第二环体的周向侧壁上分别设有用于容纳绝缘带的第一槽口和第二槽口；所述绝缘带为经过加热固化的预浸渍环氧玻纤布。本实用新型所提供的环氧拉环通过采用加热固化后的预浸渍环氧玻纤布作为绝缘及抗拉介质材料，其具有抗拉强度高，漏热低等特点，在低温条件要求高的磁体系统中对磁体系统的稳定性不会产生影响，特别适用于大型、高精度超导磁体系统。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209802606U
公开(公告)日：2019-12-17
申请号：CN201920584767.1
申请日：2019-04-26
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
Abstract: 本实用新型涉及阀门低温检漏测试技术领域，尤其涉及一种阀门低温检漏系统，包括：供配气装置、制冷装置、第一氦质谱检漏仪、第二氦质谱检漏仪、多条进气管路、多条出气管路以及真空检测平台，供配气装置通过进气管路与真空检测平台连通，第一氦质谱检漏仪与真空检测平台连通，第二氦质谱检漏仪通过出气管路与真空检测平台连通，每一对进气管路与出气管路分别连接在对应待测阀门的两端，在第一氦质谱检漏仪、第二氦质谱检漏仪、进气管路以及出气管路分别设有阀。本实用新型利用制冷装置作为冷源，提高了试验的安全性和可靠性，降低人力成本和测试费用，样品温度精确可控，一次试验能够检测多个待测阀门，测试周期短。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN208206852U
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201820917689.8
申请日：2018-06-13
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
IPC: G01N25/20
Abstract: 本实用新型公开了一种用于低温辐射性能测试的样品杆装置及测试设备。其中样品杆装置包括真空管，真空罩体，悬置在真空罩体容腔内的导热板以及放置在导热板板面上的样品组件；样品组件包括稳温端底座，发射端顶座以及屏蔽罩体；稳温端底座、发射端顶座以及屏蔽罩体形成有容纳腔；样品组件还包括有悬置于所述容纳腔内的吸收端样品件以及发射端样品件。本实用新型提供的样品杆装置可实现低温环境下不同材料的样品件的吸收率和发射率的测试；此外本实用新型提供的测试设备，通过以制冷机为冷源的低温装置与样品杆装置的配合，使得低温环境下对不同材料的样品件的吸收率和发射率的测试操作更简便，测试的可靠性及效率更高。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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