电力系统的二次回路模型文件与实时数据映射方法及装置

    公开(公告)号:CN116932468A

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202310749607.9

    申请日:2023-06-21

    Abstract: 本发明提供一种电力系统的二次回路模型文件与实时数据映射方法及装置。该方法包括:提取电力系统的二次回路模型文件中的设备信息,形成设备列表;提取电力系统的二次回路模型文件中的Core列表;其中,Core列表中包括多个Core连接信息;将起点和终点为同一屏柜的Core连接信息划分为第一类Core连接信息;将起点和终点不是同一屏柜的Core连接信息划分为第二类Core连接信息;建立设备列表中的接口信息与电力系统的SCD文件中的信息点之间的第一映射关系;基于第一映射关系,分别建立第一类Core连接信息和第二类Core连接信息中的接口信息与SCD文件中的信息点之间的映射关系。本发明能够使二次回路模型文件与实时数据之间形成相互对应关系。

    一种针对FPGA内部RAM的单粒子翻转检测方法

    公开(公告)号:CN116153380A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211546628.2

    申请日:2022-12-05

    Abstract: 本发明公开了一种针对FPGA内部RAM的单粒子翻转检测方法,涉及芯片单粒子效应试验技术领域,包括待测试FPGA芯片,实验环境中,中子源持续不断的发出高能中子,待测试FPGA芯片放置在靠近中子源处,承受高能中子的辐射;然后,待测试FPGA芯片中运行测试程序来捕获因高能中子而引起的单粒子翻转现象,然后交换机放置在实验环境中远离中子源辐射的位置并做好屏蔽措施。该针对FPGA内部RAM的单粒子翻转检测方法,针对FPGA内部RAM的单粒子翻转检测,可以直接使用已有的带FPGA芯片的单板进行中子辐射实验,无需重新设计、生产专用的测试单板,降低了实验的硬件成本。

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