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公开(公告)号:CN114397630A
公开(公告)日:2022-04-26
申请号:CN202111542627.6
申请日:2021-12-14
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种多通道副载波调制直波模拟源频率参数校准方法,利用多通道副载波调制直波模拟源工作时调相指数β0<<1rad的测试条件,采用基于频谱分析的方法解决多通道副载波调制体制直波信号的频率参数校准问题;本发明可实现复杂调制状态下多通道副载波调制直波信号的频率参数校准,校准方法方便可行,所需硬件装置简单,具有溯源性。本发明所提供的多通道副载波调制直波模拟源频率参数校准方法能完成复杂调制状态下频率参数的校准,解决其量值溯源问题,从而确保多通道副载波调制直波模拟源的性能可靠。
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公开(公告)号:CN108196476A
公开(公告)日:2018-06-22
申请号:CN201711297866.3
申请日:2017-12-08
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
IPC: G05B19/042 , G01R15/12
Abstract: 本发明提供了一种手持式万用表测试方法,通过用工装固定万用表,防止机器人在拨动万用表时万用表移动;由主控计算机通过GPIB总线控制5520A,输出源参数,5520A通过测试连接线接到开关,再由开关引出连接线到万用表;主控计算机通过TCP/IP控制机器人与视觉设备,机器人对万用表上的档位拨动与量程切换,以及所述开关的控制切换,实现参数测量自动切换,视觉设备对所述万用表上测试数据的采集,主控计算机基于视觉设备中采集来的测试数据进行判定,生成证书报告,能够实现手持式万用表自动化测试。
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公开(公告)号:CN207730927U
公开(公告)日:2018-08-14
申请号:CN201721668096.4
申请日:2017-12-05
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
IPC: G01S7/40
Abstract: 本实用新型提供了一种T/R组件测试系统校准装置,本实用新型通过对T/R组件测试系统的系统组成和工作原理以及对T/R组件参数测试方法的研究,选择合适的仪器设备建立连续波功率、峰值功率和脉冲S参数包括相位、幅度、端口驻波的五项校准标准,校准装置包括标准衰减器、标准失配器、标准移相器、频谱分析仪、功率计,可以确保T/R组件测试系统正常运行及性能指标的准确性,解决T/R组件测试系统的量值溯源问题,保障T/R组件测试系统的性能、质量及可靠性。
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