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公开(公告)号：CN1680820A
公开(公告)日：2005-10-12
申请号：CN200510069643.2
申请日：2002-06-06
Applicant: 株式会社艾德温特斯特
Inventor： 谢羽彻
IPC: G01R31/319 , G01R31/26
CPC classification number: G01R35/005 , G01R31/3191 , G01R31/31922 , G01R31/31937
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下，在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后，取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差，根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。
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公开(公告)号：CN1488149A
公开(公告)日：2004-04-07
申请号：CN01822273.0
申请日：2001-11-16
Applicant: 株式会社艾德温特斯特
Inventor： 福田浩章
CPC classification number: G11C29/56 , G11C2029/5604
Abstract: 本发明提供可简化操作并缩短操作时间的故障分析装置。缩小数据取得部40从半导体试验装置100内的CFM120读出将详细逻辑数据缩小后的缩小逻辑数据，作为试验结果。主浏览作成部80根据该缩小逻辑数据，作成包含每个DUT的试验结果的一览显示的主浏览窗口，在显示装置94进行显示。该一览显示中，包含表示各DUT是合格还是故障的结果图象和故障位映像的缩小图象。
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公开(公告)号：CN1143138C
公开(公告)日：2004-03-24
申请号：CN99101073.6
申请日：1999-01-13
Applicant: 株式会社艾德温特斯特
CPC classification number: G01R31/31835
Abstract: 本发明公开了使用实际的半导体装置能高速且可靠地检测出关键路径的关键路径探索方法和探索系统。将预定的数据输入到半导体装置中之后到输出与其对应的数据为止的工作时钟数目定为n，按顺序将该n个工作时钟的每一个的周期从失效周期变更为通过周期，进行关键路径的探索。
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公开(公告)号：CN1232972A
公开(公告)日：1999-10-27
申请号：CN99101073.6
申请日：1999-01-13
Applicant: 株式会社艾德温特斯特
CPC classification number: G01R31/31835
Abstract: 本发明公开了使用实际的半导体装置能高速且可靠地检测出关键路径的关键路径探索方法和探索系统。将预定的数据输入到半导体装置中之后到输出与其对应的数据为止的工作时钟数目定为n,按顺序将该n个工作时钟的每一个的周期从失效周期变更为通过周期,进行关键路径的探索。
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公开(公告)号：CN100573176C
公开(公告)日：2009-12-23
申请号：CN200510068999.4
申请日：2002-06-06
Applicant: 株式会社艾德温特斯特
Inventor： 谢羽彻
IPC: G01R31/319
CPC classification number: G01R35/005 , G01R31/3191 , G01R31/31922 , G01R31/31937
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下，在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后，取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差，根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100523851C
公开(公告)日：2009-08-05
申请号：CN200510070125.2
申请日：2002-06-06
Applicant: 株式会社艾德温特斯特
Inventor： 谢羽彻
IPC: G01R31/319
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下，在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后，取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差，根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。
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公开(公告)号：CN1677123A
公开(公告)日：2005-10-05
申请号：CN200510070114.4
申请日：2002-06-06
Applicant: 株式会社艾德温特斯特
Inventor： 谢羽彻
IPC: G01R31/319
CPC classification number: G01R35/005 , G01R31/3191 , G01R31/31922 , G01R31/31937
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下，在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后，取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差，根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。
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公开(公告)号：CN1677121A
公开(公告)日：2005-10-05
申请号：CN200510068998.X
申请日：2002-06-06
Applicant: 株式会社艾德温特斯特
Inventor： 谢羽彻
IPC: G01R31/319
CPC classification number: G01R35/005 , G01R31/3191 , G01R31/31922 , G01R31/31937
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下，在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后，取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差，根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。
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公开(公告)号：CN1464980A
公开(公告)日：2003-12-31
申请号：CN02802588.1
申请日：2002-06-06
Applicant: 株式会社艾德温特斯特
Inventor： 谢羽彻
IPC: G01R31/319
CPC classification number: G01R35/005 , G01R31/3191 , G01R31/31922 , G01R31/31937
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下，在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后，取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差，根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。
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公开(公告)号：CN1123094C
公开(公告)日：2003-10-01
申请号：CN97109505.1
申请日：1997-03-01
Applicant: 株式会社艾德温特斯特
Inventor： 松村茂
IPC: H01R13/40
CPC classification number: H05K7/103 , H01R12/523
Abstract: 插头，有从金属细长管套的侧壁的至少一部分向外弯的外接头，和从金属细管套侧壁的至少一部分向内弯的内接头。内外接头对金属细长管套的径向有弹性。电子元件封装板包括其中有与电子元件外引线对准的通孔的板，插头插入并保持在通孔内。电子元件封装板还包括位于上述板的背面其中有通孔的另一块板。从板中通孔伸出的插头的端部焊到另一块板的通孔中。如定位销的定位结构使插在板中通孔内的插头与另一块板中的通孔定位。
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