一种基于特征挖掘和神经网络的热图像缺陷提取方法

    公开(公告)号:CN109598711A

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201811451815.6

    申请日:2018-11-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于特征挖掘和神经网络的热图像缺陷提取方法,通过选取热图像序列中的步长将图像分块,并根据分块去除冗余信息,提取代表性瞬态热响应。本发明利用特征提取公式对瞬态热响应的总热量、吸热阶段的温度变化率、放热阶段的温度变化率、温度均值、温度峰值这些特征进行提取,并根据所提取出的特征,构建神经网络,并将瞬态热响应分类,然后,对三维矩阵进行变换,得到含有缺陷区域的二维图像,最后采用模糊C均值算法对含有缺陷区域的二维图像进行聚类和二值化,得到最终的缺陷图像,从而提取出热图像的缺陷特征。本发明通过深层次挖掘瞬态热响应曲线所包含的物理信息,提高了聚类的合理性,从而提高了缺陷提取的精准度。

    一种添加附件层的红外热图像拼接方法

    公开(公告)号:CN109285118A

    公开(公告)日:2019-01-29

    申请号:CN201811123687.2

    申请日:2018-09-26

    Abstract: 本发明公开了一种添加附件层的红外热图像拼接方法,首先在同一位置分别对附加层和被测试件进行加热,采集并记录热图像数据,直至整个被测试件采集完成;接着对附加层和被测试件对应的所有红外热图像进行直方图均衡化提高图像质量,再用中值滤波方法进行图像去噪,利用相位相关法对附加层的红外热图像进行处理,得到这两幅相邻附加层红外热图像间的水平位移和竖直位移,这个位移即为对应的相邻两幅被测试件红外热图像间的水平位移和竖直位移,最后利用这个位移量得到相邻两幅被测试件层红外热图像间的重叠区域,并采用渐出渐入法对重叠区域进行融合,最终得到一幅完整的红外热图像。

    基于变行分割和区域生长法的压容器热成像缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN108931572A

    公开(公告)日:2018-12-04

    申请号:CN201810527590.1

    申请日:2018-05-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于变行分割和区域生长法的压容器热成像缺陷检测方法,通过从涡流脉冲热图像中选出最大像素值点,根据最大像素值点利用皮尔孙相关系数法计算相关系数,进而得到变换步长,然后结合变换步长计算每个像素点的瞬态热响应,并进行分类处理,再利用隶属度最大化准则对所有像素点去模糊化,得到每个像素点所属类别,最后经过降维处理后采用区域生长算法进行特征提取,从而提取出涡流脉冲热图像的缺陷特征。

    基于多残差回归预测算法的电子产品退化趋势预测方法

    公开(公告)号:CN105468850B

    公开(公告)日:2018-08-07

    申请号:CN201510837510.9

    申请日:2015-11-26

    Abstract: 本发明公开了种基于多残差回归预测算法的电子产品退化趋势预测方法,通过对电子产品退化数据特性的充分分析选取最为适宜的初始拟合模型并对残差进行合理建模,最终实现对产品寿命的预测。同时根据历史样本同期预测误差特性的普适度对现场服役样本进行修正,提出种先加权和后加权两种理论可行的残差回归方法,更好地反映般情况,最后达到种高精度的预测,对电子产品的运行状态和预期寿命起到很好地指示作用,成为产品商对设备的维修和报废时间的参考。

    基于分数阶控制算法的四旋翼无人机飞行控制方法

    公开(公告)号:CN107977011A

    公开(公告)日:2018-05-01

    申请号:CN201711432615.1

    申请日:2017-12-26

    Abstract: 本发明公开了一种基于分数阶控制算法的四旋翼无人机飞行控制方法,控制器整体使用反步控制结构,将四旋翼无人机的二阶非线性系统拆分为两个子系统,并分别构建满足李亚普诺夫稳定性理论的控制律,并通过虚拟中间控制变量将二者串联成为一完整控制器,使控制器能够很好的适配系统的非线性,且具有良好的完整性;同时,为了增强控制器的抗扰动能力和鲁棒性,在第二次反步设计时,对被控变量进行滑模控制设计,引入滑模控制的高抗扰能力、强鲁棒性。

    基于VHDL-AMS退化模型的板级电路寿命预测方法

    公开(公告)号:CN107679307A

    公开(公告)日:2018-02-09

    申请号:CN201710880279.0

    申请日:2017-09-26

    Abstract: 本发明公开了一种基于VHDL-AMS退化模型的板级电路寿命预测方法,先分析元器件的失效模式和失效机理,建立元器件的数学退化模型,再利用matlab工具对数学退化模型进行拟合,得到最优的退化轨迹从而建立元器件的VHDL-AMS模型,最后通过对VHDL-AMS模型进行仿真,实现了元器件退化的板级电路性能检测及寿命预测。

    基于PD控制器的六自由度机械臂自适应智能检测方法

    公开(公告)号:CN107457783A

    公开(公告)日:2017-12-12

    申请号:CN201710611493.6

    申请日:2017-07-25

    Abstract: 本发明公开了一种基于PD控制器的六自由度机械臂自适应智能检测方法,通过高精度激光跟踪仪对待测试件进行空间位置坐标静态标定或者动态跟踪,获得高精度的空间位姿点,再通过将运动学和动力学结合的建模、仿真方法,在运动学过程中,通过给出的位姿点巧妙的逆解出关节角,在动力学中,通过设计PD控制器,精确的进行路径跟踪闭环控制,使整个系统结合高精度激光跟踪仪和六自由度机械臂,实现对物体的精确定位和智能化自适应检测,更符合实际工业的需求。

    一种基于环电流的漏磁仿真方法

    公开(公告)号:CN107273573A

    公开(公告)日:2017-10-20

    申请号:CN201710344531.6

    申请日:2017-05-16

    Abstract: 本发明公开了一种基于环电流的漏磁仿真方法,通过立体角的方法,推导出单个环电流的磁场分布,再分析磁介质磁化状态下环电流的排列,得出用半无限长螺线管模型描述漏磁场的结论,并给出公式;为得到准静态漏磁场的磁场强度分布,引入JA磁滞模型,分析缺陷面处的环电流的分布与激励磁场值的关系,结合上述的螺线管模型,推导出准静态漏磁场的磁场强度分布。本发明通过引入磁滞模型和缺陷面法向量克服了磁偶极子模型的上述不足,得到的模型公式简单有效,相对于有限元法效率更高,且漏磁信号和缺陷形状的函数关系可由公式直接推导。

Patent Agency Ranking