石英晶片研磨的高精度频率校准方法

    公开(公告)号:CN111596129B

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202010489015.4

    申请日:2018-05-16

    Abstract: 本发明公开了石英晶片研磨的高精度频率校准方法,包括研磨过程频率统计和机器校准;所述机器校准包括仪器校准、机台校准和用户校准;校准采用如下公式:F主显=F实测+F仪器校准+F机台校准+F用户校准=F晶片;研磨过程频率统计用以保证频率统计的精确性,从而保证同一批料散差小,一致性高,所述机器校准用以保证仪器频率的准确性,从而使频率统计数据能真实反应研磨机的研磨能力;本发明提供了一种通过增加仪器校准来保障机器本身的无误,并通过机台校准和用户校准用于保证测频精度;实现了同一批料盘间散差小,且当达到目标频率时精准停机,保证了仪器间的一致性。

    石英晶片研磨的高精度频率统计校准的方法

    公开(公告)号:CN111665392B

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202010489456.4

    申请日:2018-05-16

    Abstract: 本发明公开了石英晶片研磨的高精度频率统计校准的方法,包括研磨过程频率统计和机器校准;所述机器校准包括仪器校准、机台校准和用户校准;首先进行仪器校准,在F仪器校准的基础上,进行F机台校准;研磨过程频率统计用以保证频率统计的精确性,从而保证同一批料散差小,一致性高,所述机器校准用以保证仪器频率的准确性,从而使频率统计数据能真实反应研磨机的研磨能力;本发明提供了一种通过增加仪器校准来保障机器本身的无误,并通过机台校准和用户校准用于保证测频精度;实现了同一批料盘间散差小,且当达到目标频率时精准停机,保证了仪器间的一致性。

    一种合成革卷边在线检测方法

    公开(公告)号:CN113567447A

    公开(公告)日:2021-10-29

    申请号:CN202110793717.6

    申请日:2019-08-07

    Abstract: 一种合成革卷边在线检测方法,包括支撑杆、支撑杆底盘、横杆一、横杆二、背光源、短杆、支杆、正面光源、采图模块、报警灯、工控机以及电气控制柜;所述支撑杆设置于支撑底盘,支撑底盘设置于地面,支撑杆竖立于检测点左右两侧;所述横杆一设置于支撑杆之间;所述背光源设置于横杆一上;所述短杆设置于支撑杆,短杆与支撑杆之间设置支杆;所述横杆二设置于短杆之间;所述工控机与电气控制柜设置于支撑杆,工控机与采图模块以及正面光源电性连接;本发明通过机器代替人工,避免了人工检查可能存在漏检或是发现问题不及时的情况发生,保证了生产布匹的质量;通过灰度值检测确定布匹的边缘,便于进行毛边以及卷边检测。

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