用于光学发射分析的改善的火花室

    公开(公告)号:CN103080732A

    公开(公告)日:2013-05-01

    申请号:CN201180042440.8

    申请日:2011-08-22

    CPC classification number: G01J3/10 G01J3/443 G01N21/05 G01N21/67

    Abstract: 一种用于光学发射分析器的火花室(110)包括:定位在该火花室(110)的一个第一侧上的一个进气口(125),该进气口用于将一种气体供应到该火花室(110)中;以及定位在该火花室(110)的一个第二侧上的一个出气口(135),该出气口被安排成从该火花室(110)运输该气体;其中一个狭长电极(140)被定位在该火花室(110)内,该电极具有总体上沿狭长方向的一个电极轴线(142);并且其中:该火花室(110)的该第一侧和该第二侧在总体上垂直于该电极轴线(142)的方向上位于该狭长电极(140)的两侧;在该进气口与该出气口之间存在穿过该火花室(110)的一个气流轴线(159);并且在沿从该进气口(125)到该出气口(135)的气流轴线(159)而过时,该火花室(110)的垂直于该气流轴线的无阻碍的内部截面积在一个因数A内保持恒定,其中A位于1.0与2.0之间。

    一种土壤表面氮元素分布的快速测量方法和系统

    公开(公告)号:CN103076309A

    公开(公告)日:2013-05-01

    申请号:CN201210558686.7

    申请日:2012-12-20

    CPC classification number: G01N21/718 G01J3/443

    Abstract: 本发明涉及地球勘探技术领域,尤其涉及一种对土壤表面氮元素分布的快速测量的方法和系统。该系统包括:密闭负压舱体、分析装置、二维运动样本台、激光激发装置和原子光谱收集装置;分析装置控制二维运动样本台的运动状态,激光激发装置和原子光谱收集装置用于激发并获取土壤表面的微量原子发射光谱,分析土壤表面被照射位置的氮素含量;分析装置,用于承载控制、定标和定量化回归算法,计算土壤表面被照射不同位置的氮素的含量,自动绘制氮素分布图。本发明实施例提供的土壤表面氮元素测量的方法和系统,可获得土壤表面有机态氮、速效氮成分、土壤样本表面氮素的分布图像、有效消除空气中氮素对测量结果的影响。

    用于故障检验和过程监测的辐射光学监测系统的校准

    公开(公告)号:CN101689222B

    公开(公告)日:2012-12-26

    申请号:CN200880015308.6

    申请日:2008-05-06

    CPC classification number: G01J3/443 G01J3/28 G01J2003/2866

    Abstract: 本发明涉及一种在故障检验和过程监测中使用的光谱设备辐射校准系统和方法。首先,将参考摄谱仪校准到本地基本标准(具有已知光谱强度和可追溯到参考标准的经校准的光源)。然后根据参考摄谱仪而非本地基本校准标准来校准其它摄谱仪。这通过用参考摄谱仪和待校准的摄谱仪两者观察光源来完成。来自待校准的摄谱仪的输出与参考摄谱仪的输出相比较,然后进行调整以与该输出一致。当前的校准过程能分两个阶段完成,第一阶段将摄谱仪校准到参考摄谱仪,然后在等离子腔室微调到窄带光源。作为替代,参考摄谱仪能校准到本地基本标准而光学耦合到等离子腔室。在此,本地基本标准校准光源临时定位在等离子腔室内、或者在沿着腔室内部布置的光腔室中,用于校准参考摄谱仪。当耦合到具有本地基本标准校准光源的等离子腔室时,其它摄谱仪能校准到参考摄谱仪,从而将整个光学路径中的每个组件校准到参考光源。

    分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序

    公开(公告)号:CN102187203A

    公开(公告)日:2011-09-14

    申请号:CN200980140897.5

    申请日:2009-09-08

    Abstract: 本发明涉及分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序。具备在内部配置试料(S)的积分球(20)、对来自试料(S)的被测定光进行分光从而取得波长光谱的分光分析装置(30)以及数据解析装置(50)从而构成分光测定装置(1A)。解析装置(50)具有在波长光谱中设定对应于激励光的第1对象区域以及对应于来自试料(S)的发光的第2对象区域的对象区域设定部、以及求得试料(S)的发光量子收率的试料信息解析部,根据参照测定以及样品测定的结果求得发光量子收率的测定值φ0,并且使用与参照测定中的杂散光相关的系数β、γ,并由φ=βφ0+γ求得降低了杂散光的影响的发光量子收率的解析值φ。由此,实现了可以降低在分光器内所发生的杂散光的影响的分光测定装置、测定方法以及测定程序。

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