一种检测尘泥和转炉泥成分的方法

    公开(公告)号:CN101685074A

    公开(公告)日:2010-03-31

    申请号:CN200810013488.6

    申请日:2008-09-27

    Abstract: 本发明涉及一种检测尘泥和转炉泥成分的方法,该方法包括试样研磨、样片制作、荧光分析工作过程,采用X-射线荧光粉末压片法对尘泥和转炉泥成分进行分析,检测出元素的发射强度,然后通过由标准样品依据谱线强度和已知含量建立线性方程,即可求出被测样品中分析元素的质量百分含量。试样研磨的粒度为150目-200目;压力30-50吨,静压时间30-60秒。本发明的有益效果是:采用粉末压片法荧光分析,分析周期短、方便、提高了劳动生产率。

    一种快速测定二氧化硅的方法

    公开(公告)号:CN106940293A

    公开(公告)日:2017-07-11

    申请号:CN201610004996.2

    申请日:2016-01-05

    CPC classification number: G01N21/31

    Abstract: 本发明涉及一种快速测定二氧化硅的方法,该方法包括试样制备、试样分析过程,将用于化学分析的<100目的试样用过氧化钠熔融,以水将熔融物冲洗于盛有盐酸的烧杯中溶解,定容后分取试液置于容量瓶中,加稀盐酸、钼酸铵溶液,混匀,放置5-35min或水浴加热5-40S;加水、草硫混酸、加硫酸亚铁铵溶液,用水稀释定容,于分光光度计上,在630-810nm波长处,用比色皿,以水或空白液为参比测量吸光度。本发明基于硫酸亚铁铵还原-硅钼蓝分光光度法基本原理,不仅有更广泛的适用性,可适用于各种物料的检验,而且其测定范围可涵盖生产所需。其分析过程简便、控制因素少、过程控制要求低、便于掌握,分析准确度高。

    一种X射线荧光粉末压片法分析硼镁铁矿的方法

    公开(公告)号:CN106153654A

    公开(公告)日:2016-11-23

    申请号:CN201510141264.3

    申请日:2015-03-28

    Abstract: 一种X射线荧光粉末压片法分析硼镁铁矿的方法,包括以下步骤:1)用已知各元素含量的硼镁铁矿建立标准曲线:采用X射线荧光光谱仪测定样片元素发射强度,利用对一系列内控标样测量得到各元素的发射强度,结合各元素在试样中的质量百分含量,运用最小二乘法回归出一条与样品元素含量相关联的直线以及其线性方程式;2)对待测硼镁铁矿进行测定:采用X射线荧光光谱仪测定样片元素发射强度,利用已得出的关于元素含量的线性方程式,计算出待测样片中各元素的质量百分含量。本发明采用X射线荧光粉末压片法对硼镁铁矿中所含元素进行分析和检测,准确性高、检验周期短、多元素同时测定、检验成本低、环境污染小。

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