公开(公告)号：CN115855830A

公开(公告)日：2023-03-28

申请号：CN202211669578.7

申请日：2022-12-24

Applicant: 郑州轻工业大学

Inventor： 秦自瑞 ,  姜利英 ,  衡胜严 ,  张培 ,  任林娇 ,  齐汝宾 ,  庞伟伟 ,  周海洋

IPC: G01N21/21

Abstract: 本发明属于光学领域，涉及一种手性物质旋光度的测量方法，特别是指一种利用面内空间自旋分裂位移测量微小旋光角度的方法和应用。本申请根据面内空间自旋分裂位移与旋光角度的理论关系模型，建立旋光角度与面内空间自旋分裂位移变化量的理论对应关系数据库；然后测量入射光束在未装物品的样品池的界面上发生反射时，反射光束所产生的面内空间自旋分裂位移；再将被测物装入样品池中，并测量此时反射光束所产生的面内空间自旋分裂位移；计算旋光角度所引起的面内空间自旋分裂位移变化量；再与理论对应关系数据库进行比对计算，即得目标值。本发明利用面内空间自旋分裂位移对旋光角度的优异敏感特性，可实现微小旋光角度的高分辨力测量。

公开(公告)号：CN115855878A

公开(公告)日：2023-03-28

申请号：CN202211669540.X

申请日：2022-12-24

Applicant: 郑州轻工业大学

Inventor： 秦自瑞 ,  姜利英 ,  白子豪 ,  任林娇 ,  张培 ,  齐汝宾 ,  庞伟伟 ,  周海洋

IPC: G01N21/41 ,  G01N21/21

Abstract: 本发明属于精密测量领域，涉及一种基于面内光子自旋霍尔效应的偏振态调制型纳米级薄膜折射率测量方法及其应用。通过建立不同厚度的薄膜材料在各折射率下，面内光子自旋分裂位移随入射偏振态变化的数据库；将待检测的纳米级薄膜放到样品台上，在某入射角下，依次采集不同入射偏振态时面内光子自旋分裂位移的测量数据。将该测量数据与数据库中的相应理论数据进行比对，进而确定被测纳米级薄膜的折射率。本发明的检测系统结构简单、易于操作，且测量时调制的是入射偏振态而非入射角，因此，测量过程中不会引入因入射角变动而引起的偏心误差。此外，该方法测量的是光斑质心的偏移，其不受环境光的影响，因而该方法具有测量精度高和稳定性好等优点。