X射线相位衬度检测器
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113243927B

    公开(公告)日:2024-12-17

    申请号:CN202110024957.X

    申请日:2021-01-08

    Abstract: 本发明题为“X射线相位衬度检测器”。本公开涉及相位衬度成像检测器的制造和用途,该相位衬度成像检测器包括子像素分辨率电极或光电二极管,该子像素分辨率电极或光电二极管被间隔开以对应于相位衬度干涉图案。使用此类检测器的系统可采用比通常在相位衬度成像系统中使用的光栅更少的光栅,其中通常由检测器侧分析仪光栅提供的某些功能性由检测器的子像素分辨率结构(例如,电极或光电二极管)执行。使用检测器采集的测量结果可用于不需要在不同相位阶跃处进行多次采集的情况下确定相位衬度干涉图案的偏移、振幅和相位。

    被配置为在不同的能级下且在不同的焦点位置处成像的计算机断层摄影系统和方法

    公开(公告)号:CN110559006B

    公开(公告)日:2023-07-28

    申请号:CN201910490165.4

    申请日:2019-06-06

    Abstract: 本发明题为“被配置为在不同的能级下且在不同的焦点位置处成像的计算机断层摄影系统和方法”。本发明提供了一种计算机断层摄影(CT)成像系统(100)和方法,其中所述系统包括x射线源(114),所述x射线源用于从焦点发射x射线(116)的光束(215)并移动所述焦点的焦点位置。所述系统还包括检测器组件,所述检测器组件被配置为检测被对象衰减的所述x射线(116)。至少一个处理单元(136)被配置为执行存储在存储器中的编程指令。所述至少一个处理单元(136)被配置为引导所述x射线源(114)在不同的能级下发射所述x射线(116)的不同的光束(215)并且从所述检测器组件接收表示对在所述不同的能级下发射的所述x射线(116)的检测的数据。所述至少一个处理单元(136)还被配置为引导所述x射线源(114)移动所述焦点,使得所述焦点处于不同的焦点位置,同时发射所述不同的光束(215)。

    被配置为在不同的能级下且在不同的焦点位置处成像的计算机断层摄影系统和方法

    公开(公告)号:CN110559006A

    公开(公告)日:2019-12-13

    申请号:CN201910490165.4

    申请日:2019-06-06

    Abstract: 本发明题为“被配置为在不同的能级下且在不同的焦点位置处成像的计算机断层摄影系统和方法”。本发明提供了一种计算机断层摄影(CT)成像系统(100)和方法,其中所述系统包括x射线源(114),所述x射线源用于从焦点发射x射线(116)的光束(215)并移动所述焦点的焦点位置。所述系统还包括检测器组件,所述检测器组件被配置为检测被对象衰减的所述x射线(116)。至少一个处理单元(136)被配置为执行存储在存储器中的编程指令。所述至少一个处理单元(136)被配置为引导所述x射线源(114)在不同的能级下发射所述x射线(116)的不同的光束(215)并且从所述检测器组件接收表示对在所述不同的能级下发射的所述x射线(116)的检测的数据。所述至少一个处理单元(136)还被配置为引导所述x射线源(114)移动所述焦点,使得所述焦点处于不同的焦点位置,同时发射所述不同的光束(215)。

    X射线相位衬度检测器
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113243927A

    公开(公告)日:2021-08-13

    申请号:CN202110024957.X

    申请日:2021-01-08

    Abstract: 本发明题为“X射线相位衬度检测器”。本公开涉及相位衬度成像检测器的制造和用途,该相位衬度成像检测器包括子像素分辨率电极或光电二极管,该子像素分辨率电极或光电二极管被间隔开以对应于相位衬度干涉图案。使用此类检测器的系统可采用比通常在相位衬度成像系统中使用的光栅更少的光栅,其中通常由检测器侧分析仪光栅提供的某些功能性由检测器的子像素分辨率结构(例如,电极或光电二极管)执行。使用检测器采集的测量结果可用于不需要在不同相位阶跃处进行多次采集的情况下确定相位衬度干涉图案的偏移、振幅和相位。

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