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公开(公告)号：CN109632104A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811489493.4
申请日：2018-12-06
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明提出一种红外阵列辐射源校准装置及校准方法，装置包括光源系统、准直光学系统、平面反射镜、精密转台、会聚光学系统、红外图像采集系统、辐射探测系统、数据采集系统和计算机及测控系统。本发明采用被测红外阵列辐射源与参考黑体的比较的方法，参考黑体选用一级标准黑体，一级标准黑体可以直接溯源到凝固点黑体上，其温度稳定性±0.1℃/h，发射率可达0.995，极大的提高了测量的准确性，并减小了测量结果不确定度。本发明低背景源用于消除背景辐射，增加辐射探测系统的探测能力，提高系统的探测精度和稳定性，低背景源制成中空桶状，内部结构全部采用焊接密封，可以注入液氮用，为探测器提供一个冷背景，降低环境的辐射，提高信噪比。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109459140A
公开(公告)日：2019-03-12
申请号：CN201811489479.4
申请日：2018-12-06
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明提出了一种用于红外辐射外场测试的超大面积红外辐射靶板，包括辐射面结构、加热系统、温度测量系统、温度控制系统和密闭保温系统；辐射面结构包括辐射面本体、连接机构和稳定支撑机构；其中辐射面本体由三块子辐射面纵向拼接组成尺寸为1.5m×1.5m、温度范围为环境温度+5℃—150℃的红外辐射辐射面本体。本发明靶板能够做为温度均匀的大面积标准红外辐射源，主要用于红外辐射计、热像仪、红外辐射测温仪器等红外辐射测量仪器远距离外场标定和校准，同时作为标准稳定的红外辐射标准，用于野外红外波段的大气透过率测量。
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公开(公告)号：CN105659830B
公开(公告)日：2014-06-18
申请号：CN201010051421.9
申请日：2010-11-15
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种常温面源黑体有效发射率的均匀性校准方法，属于红外光学计量测试领域。该方法通过镓熔融点黑体的熔融温度、铟凝固点黑体的凝固温度来校准变温标准黑体，从而获得变温标准黑体在常温范围内的有效发射率-温度关系曲线，据此再用变温标准黑体校准并测量常温面源黑体的有效发射率，进而通过移动精密二维平台来校准面源黑体在常温下各点的有效发射率及其均匀性。本方法在完成对变温标准黑体有效发射率量值溯源的基础上，实现了对大面积常温面源黑体各点有效发射率的标定，能准确地解释待标常温面源黑体的温度与有效发射率之间的相关性。本发明具有校准省时、校准数据准确而可靠的特点。
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公开(公告)号：CN109341871A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201811489480.7
申请日：2018-12-06
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J5/06
Abstract: 本发明提出一种采用内部控温技术提高红外辐射计信噪比的方法，将组成红外辐射计的光学系统、滤光片、视场光栏、斩波器、椭球反射镜、低背景源、红外探测器封装在密封腔体内，并在密闭腔体的内壁上贴装固定半导体制冷器，在密闭腔体内红外探测器一侧安装有测温铂电阻；在密闭腔体壁面上安装有温控器；所述半导体制冷器与测温铂电阻和温控器连接，测温铂电阻实时采集红外探测器周围空间的温度并反馈给温控器；温控器控制半导体制冷器调节红外辐射计内部温度，使红外辐射计内部温度保持设定温度，提高红外辐射计的信噪比。本发明通过控制系统内部温度能够有效解决系统内部元器件发热引起的杂散信号变化的问题。
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公开(公告)号：CN109632104B
公开(公告)日：2020-01-14
申请号：CN201811489493.4
申请日：2018-12-06
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明提出一种红外阵列辐射源校准装置及校准方法，装置包括光源系统、准直光学系统、平面反射镜、精密转台、会聚光学系统、红外图像采集系统、辐射探测系统、数据采集系统和计算机及测控系统。本发明采用被测红外阵列辐射源与参考黑体的比较的方法，参考黑体选用一级标准黑体，一级标准黑体可以直接溯源到凝固点黑体上，其温度稳定性±0.1℃/h，发射率可达0.995，极大的提高了测量的准确性，并减小了测量结果不确定度。本发明低背景源用于消除背景辐射，增加辐射探测系统的探测能力，提高系统的探测精度和稳定性，低背景源制成中空桶状，内部结构全部采用焊接密封，可以注入液氮用，为探测器提供一个冷背景，降低环境的辐射，提高信噪比。
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公开(公告)号：CN108375554A
公开(公告)日：2018-08-07
申请号：CN201810154692.3
申请日：2018-02-23
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01N21/3504 , G01N21/59
Abstract: 本发明公开了一种水平红外大气光谱透过率测量方法，可实现任意距离下水平红外大气光谱透过率测量。近距离水平红外大气光谱透过率测量采用现场直接测量的方法，即在确保红外辐射靶板充满红外光谱辐射计视场条件下，移动红外辐射靶板，采集红外光谱辐射计测量测试距离下红外辐射靶板的红外辐射信号，将该辐射信号值与“零”距离采集的红外辐射信号值相比，从而得到该距离的水平红外大气光谱透过率值；由于收到测量仪器、信噪比等影响，实际测量的方法只适合于有限远距离，为实现远距离水平红外大气光谱透过率评估，本发明在近距离水平红外大气光谱透过率的测量方法，测量多个测量点的大气光谱透过率值，再对这些数据进行指数函数拟合，从而实现远距离水平红外大气光谱透过率评估。
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