公开(公告)号：CN103435824B

公开(公告)日：2016-11-09

申请号：CN201310306940.9

申请日：2013-07-19

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 李本强 ,  常定定 ,  江新兵 ,  于伟 ,  罗拯东

IPC: C08J5/18 ,  C08L27/16 ,  C08K3/08 ,  G01R27/26

Abstract: 聚偏氟乙烯‑三氟乙烯/银纳米粒子复合薄膜制备和测试，制备采用有机相原位合成银纳米粒子，在此基础上配制聚偏氟乙烯‑三氟乙烯胶体溶液，通过旋涂法制备薄膜，然后进行热处理退火获得复合薄膜；测试借助铜网为掩膜板，溅射沉积薄膜的上电极，从而通过探针台进行复合薄膜的电特性测试，连接阻抗仪测试其介电特性，本发明制备效率较高，大大提高了分散性和相容性，工艺简单，操作方便，成本低；测试方法操作简单，可以实现纳米级薄膜的准确测试。

公开(公告)号：CN103435824A

公开(公告)日：2013-12-11

申请号：CN201310306940.9

申请日：2013-07-19

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 李本强 ,  常定定 ,  江新兵 ,  于伟 ,  罗拯东

IPC: C08J5/18 ,  C08L27/16 ,  C08K3/08 ,  G01R27/26

Abstract: 聚偏氟乙烯-三氟乙烯/银纳米粒子复合薄膜制备和测试，制备采用有机相原位合成银纳米粒子，在此基础上配制聚偏氟乙烯-三氟乙烯胶体溶液，通过旋涂法制备薄膜，然后进行热处理退火获得复合薄膜；测试借助铜网为掩膜板，溅射沉积薄膜的上电极，从而通过探针台进行复合薄膜的电特性测试，连接阻抗仪测试其介电特性，本发明制备效率较高，大大提高了分散性和相容性，工艺简单，操作方便，成本低；测试方法操作简单，可以实现纳米级薄膜的准确测试。