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发明公开
用于测量电流的测量装置和方法审中-公开

公开(公告)号：CN119998668A

公开(公告)日：2025-05-13

申请号：CN202380070841.7

申请日：2023-09-14

Applicant: 舍弗勒技术股份两合公司

Inventor： G·舒伯特 , D·安东吉罗拉米 , S·K·R·约瑟夫

IPC: G01R19/00 , G01R19/165

Abstract: 本发明涉及用于测量从半桥(HB)的两个晶体管(T1、T2)之间的中心抽头(M)流过耗电器(L)的电流(I)的测量装置和方法，其中所述测量装置被配置为对于两个晶体管(T1、T2)，在相应的晶体管(T1、T2)导通时，在单独的测量通道(OMK、UMK)中分别测量该晶体管(T1、T2)的通道电阻两端的电压，其中每个测量通道(OMK、UMK)具有加法元件(AG)、低通滤波器(TPF)和模数转换器(ADC1、ADC2)，使得在每个测量通道(OMK、UMK)中，相应电压降的信号(SO、SU)能够经由所述加法元件(AG)和所述低通滤波器(TPF)输送到所述模数转换器(ADC1、ADC2)，其中每个测量通道(OMK、UMK)的加法元件(AG)被配置为将相应测量通道(OMK、UMK)的信号(SO、SU)与相应的另一个测量通道(OMK、UMK)的信号(SO、SU)相加。

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