-
-
公开(公告)号:CN106236012A
公开(公告)日:2016-12-21
申请号:CN201610405634.4
申请日:2016-06-08
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: A61B5/00
CPC classification number: A61B5/04007 , A61B5/0046 , A61B5/0064 , A61B5/0077 , A61B5/04008 , A61B5/1072 , A61B5/1077 , A61B5/704 , G01R33/0076 , G01R33/025 , G01R33/0358 , A61B5/00
Abstract: 提供一种磁场计测装置及磁场计测方法,能够在不受被检体体型的影响下,精度良好地检测被检体的磁矢量分布。磁场计测装置具备:检测来自被检体(6)的磁场的磁传感器(4),设置有被检体(6)的台(3),测定被检体(6)的表面形状的形状测定装置(5),计算表面形状的平均平面的平均平面运算部,以及对台(3)进行控制以使磁传感器(4)的相对面与平均平面平行的控制部。
-
公开(公告)号:CN104427844A
公开(公告)日:2015-03-18
申请号:CN201410457805.9
申请日:2014-09-10
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor: 保刈龙治
IPC: H05K9/00 , G01R33/022
CPC classification number: H05K9/0071 , G01R1/18 , G01R33/0076 , G01R33/025
Abstract: 本发明提供一种磁屏蔽装置以及磁屏蔽方法,通过控制流入磁场梯度而具有优异的磁场测量空间。磁屏蔽装置的特征在于具有:无源屏蔽罩(11)、在无源屏蔽罩的内部被规定的修正对象空间(150)、作为对无源屏蔽罩(11)内的磁场进行修正的作为第一线圈的外部线圈(12A、12B)、第一磁传感器(14A)、与第一磁传感器(14A)相比更靠近无源屏蔽罩(11)的内侧而配置的第二磁传感器(14B)、和控制部(20),第一磁传感器(14A)和第二磁传感器(14B)测量无源屏蔽罩(11)的磁场梯度,控制部(20)基于第一磁传感器(14A)和第二磁传感器(14B)的测量结果来控制外部线圈(12A、12B)。
-
-