半导体设备及其控制方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116073828A

    公开(公告)日:2023-05-05

    申请号:CN202211339125.8

    申请日:2022-10-28

    Inventor: 斋藤航 森下玄

    Abstract: 本公开涉及半导体设备及其控制方法。一种半导体设备,包括:被设置有多个电流单元的数模转换器;以及电连接至数模转换器以测试数模转换器的测试电路。测试电路包括:电荷信息保持电路,通过多个电流单元中的至少一个或多个电流单元将根据第一电流的第一电荷与根据第二电流的第二电荷之间的差值保持为差分电荷信息;参考电压生成电路,生成作为比较对象的参考电压;以及比较电路,将根据差分电荷信息的确定电压与参考电压进行比较,以输出比较结果。

    半导体设备
    2.
    发明公开
    半导体设备 审中-公开

    公开(公告)号:CN118444791A

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202410159548.4

    申请日:2024-02-04

    Inventor: 斋藤航 森下玄

    Abstract: 本公开的各实施例涉及半导体设备。其中发送时段和接收时段交替重复的半导体设备的电路面积被减小。半导体设备包括发送电路和接收电路。接收电路包括增益控制电路,该增益控制电路在接收时段期间对输入信号进行采样以调节接收电路的增益并且在发送时段期间基于采样结果调节增益。

    半导体设备和成像设备
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118057828A

    公开(公告)日:2024-05-21

    申请号:CN202311538946.9

    申请日:2023-11-17

    Inventor: 斋藤航 森下玄

    Abstract: 本公开涉及一种半导体设备和成像设备,其中被设置在半导体设备中的可编程增益放大器包括全差分放大器,该全差分放大器被配置为将具有偏置电压的差分输入电压放大。第一校正电压和第二校正电压分别经由第一电阻元件和第二电阻元件而被输入到全差分放大器的非反相输入节点和反相输入节点。

    电流检测电路、半导体器件和半导体系统

    公开(公告)号:CN111740729A

    公开(公告)日:2020-10-02

    申请号:CN202010191695.1

    申请日:2020-03-18

    Abstract: 本公开的实施例涉及电流检测电路、半导体器件以及半导体系统,其适用于改进电流感测准确度。根据一个实施例,电流检测电路12包括:感测晶体管Tr11,与流过驱动晶体管MN1的电流成比例的第一感测电流流过感测晶体管Tr11;运算放大器AMP1,用于将外部输出端子OUT的电压与用于输出第一感测电流的感测晶体管Tr11的源极电压的电势差放大;与感测晶体管Tr11串联提供的晶体管Tr12,并且运算放大器AMP1的输出电压施加到晶体管Tr12的栅极;以及开关SW3,被提供在外部输出端子OUT与感测晶体管Tr11的源极之间,开关SW3在驱动晶体管MN1关断时接通。

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