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公开(公告)号：CN101482473B
公开(公告)日：2011-02-02
申请号：CN200910078086.9
申请日：2009-02-13
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明涉及一种精确测量纳米线杨氏模量的方法，其原理为：在纳米线悬臂梁上引入一个新加支点，改变纳米线悬臂梁的固有频率，通过调节纳米线悬臂梁上新加支点的位置，得到一组纳米线悬臂梁的数据点信息，经过这些数据点得出的实验数据曲线。实验数据曲线与理论数据曲线拟合，得出与实验数据曲线最接近的那条理论数据曲线相对应的观测误差值，从而来间接推算出纳米线悬臂梁固定端支点的准确位置。与现有测量纳米线杨氏模量的电致共振法相比，本发明的方法可以得出纳米线悬臂梁固定端存在的不能直接得出的观测误差，使得测量结果更接近真实结果。本发明的方法简单且结果准确，因而为纳电子器件的设计和应用提供了必要的参数。
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公开(公告)号：CN101482473A
公开(公告)日：2009-07-15
申请号：CN200910078086.9
申请日：2009-02-13
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明涉及一种精确测量纳米线杨氏模量的方法，其原理为：在纳米线悬臂梁上引入一个新加支点，改变纳米线悬臂梁的固有频率，通过调节纳米线悬臂梁上新加支点的位置，得到一组纳米线悬臂梁的数据点信息，经过这些数据点得出的实验数据曲线。实验数据曲线与理论数据曲线拟合，得出与实验数据曲线最接近的那条理论数据曲线相对应的观测误差值，从而来间接推算出纳米线悬臂梁固定端支点的准确位置。与现有测量纳米线杨氏模量的电致共振法相比，本发明的方法可以得出纳米线悬臂梁固定端存在的不能直接得出的观测误差，使得测量结果更接近真实结果。本发明的方法简单且结果准确，因而为纳电子器件的设计和应用提供了必要的参数。
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