-
公开(公告)号：CN106849873B
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201710063089.X
申请日：2017-01-19
申请人： 深圳市量为科技有限公司
IPC分类号： H02S50/15
摘要： 本发明提供了一种太阳能电池抗辐照能力无损检验方法及装置，所述方法包括：获取随机子样太阳能电池辐照前短路电流Jsc和输出电压处的1/f噪声幅值B；获取所述随机子样太阳能电池的经过辐照实验后的短路电流Jsc′；基于Jsc和Jsc′，计算短路电流漂移量ΔJsc＝Jsc′‑Jsc；以噪声幅值B作为信息参数，以短路电流漂移量ΔJsc作为辐照性能参数，建立噪声幅值B和ΔJsc之间的多元线性回归方程并计算线性回归方程中的系数向量建立信息参数B和辐照性能参数ΔJsc之间的无损筛选回归预测方程；利用无损筛选回归预测方程，测试单个太阳能电池的抗辐照性能，对同批太阳能电池进行筛选。本发明能够实现在对太阳能电池无损坏的前提下，进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。
-
公开(公告)号：CN106841968A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710063087.0
申请日：2017-01-19
申请人： 深圳市量为科技有限公司
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/265
CPC分类号： G01R31/2601 , G01R31/2646 , G01R31/2656
摘要： 本发明提供了一种光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取作为随机子样的光电耦合器辐照前的电流传输比和1/f噪声幅值；获取作为随机子样的光电耦合器经过辐照后的电流传输比；计算辐照前后的电流传输比变化量；对数据进行预处理，以噪声幅值作为信息参数，以电流传输比变化量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；基于系数向量，建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；利用无损筛选回归预测方程，预测单个光电耦合器件的抗辐照性能，对同批其他光电耦合器器件进行筛选。本发明能够实现在对光电耦合器无损坏的前提下，进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。
-
公开(公告)号：CN106771779A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710063086.6
申请日：2017-01-19
申请人： 深圳市量为科技有限公司
IPC分类号： G01R31/00
CPC分类号： G01R31/001
摘要： 本发明提供了一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取作为随机子样的电阻器辐照前的电阻值和1/f噪声电压功率谱幅值；获取作为随机子样的电阻器经过辐照后的电阻值；基于辐照前的电阻器的电阻值和经过辐照后的电阻器的电阻值，计算辐照前后的电阻值漂移量；以1/f噪声电压功率谱幅值作为信息参数，以电阻值漂移量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；基于系数向量，建立信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；利用所述无损筛选回归预测方程，对同批其他电阻器器件进行筛选。本发明能够实现在对电阻器无损坏的前提下，进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。
-
公开(公告)号：CN106771953B
公开(公告)日：2019-10-18
申请号：CN201710063090.2
申请日：2017-01-19
申请人： 深圳市量为科技有限公司
摘要： 本发明提供了一种肖特基二极管抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取辐照前作为随机子样的肖特基二极管的反向漏电流、反向击穿电压和噪声电压功率谱幅值；获取经过辐照后的作为随机子样的肖特基二极管的反向漏电流；计算辐照前后的反向漏电流退化量；以反向击穿电压和噪声电压功率谱幅值作为信息参数，以反向漏电流退化量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，估计线性回归方程中的系数向量；建立无损筛选回归预测方程；利用所述无损筛选回归预测方程，预测单个器件的抗辐照性能。本发明能够实现在对肖特基二极管无损坏的前提下，进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。
-
-
公开(公告)号：CN106849873A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710063089.X
申请日：2017-01-19
申请人： 深圳市量为科技有限公司
IPC分类号： H02S50/15
CPC分类号： H02S50/15
摘要： 本发明提供了一种太阳能电池抗辐照能力无损检验方法及装置，所述方法包括：获取随机子样太阳能电池辐照前短路电流Jsc和输出电压处的1/f噪声幅值B；获取所述随机子样太阳能电池的经过辐照实验后的短路电流Jsc′；基于Jsc和Jsc′，计算短路电流漂移量ΔJsc＝Jsc′‑Jsc；以噪声幅值B作为信息参数，以短路电流漂移量ΔJsc作为辐照性能参数，建立噪声幅值B和ΔJsc之间的多元线性回归方程并计算线性回归方程中的系数向量建立信息参数B和辐照性能参数ΔJsc之间的无损筛选回归预测方程；利用无损筛选回归预测方程，测试单个太阳能电池的抗辐照性能，对同批太阳能电池进行筛选。本发明能够实现在对太阳能电池无损坏的前提下，进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。
-
公开(公告)号：CN106841972A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710063101.7
申请日：2017-01-19
申请人： 深圳市量为科技有限公司
IPC分类号： G01R31/265
CPC分类号： G01R31/2656
摘要： 本发明提供了一种GaN发光二极管抗辐照能力无损筛选方法及装置，所述方法包括：获取随机子样器件的输出光功率Pout和1/f噪声幅值B；获取经过辐照实验后的所述随机子样器件的输出光功率Pout′；基于所述Pout和所述Pout′，计算退化量ΔPout＝Pout′‑Pout；以所测量的1/f噪声幅值B作为信息参数，以输出光功率退化量ΔPout作为辐照性能参数，采用线性回归法建立B和ΔPout之间的线性回归方程并计算得到线性回归方程中的ΔPout和信息参数B的系数向量建立信息参数B和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程：利用所述无损筛选回归预测方程预测单个器件的抗辐照性能。本发明能够实现在对元器件无损坏的前提下，进行对GaN发光二极管元器件准确、高效的筛选。
-
公开(公告)号：CN106771778A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710057522.9
申请日：2017-01-19
申请人： 深圳市量为科技有限公司
IPC分类号： G01R31/00
CPC分类号： G01R31/001
摘要： 本发明提供了一种低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取作为随机子样的低压差线性稳压器辐照前的输出噪声电压值及输出电压值；获取作为随机子样的低压差线性稳压器经过辐照后的输出电压值；基于辐照前的输出电压值和经过辐照后的输出电压值，计算得到输出电压漂移量；以辐照前的输出噪声电压值作为信息参数，以输出电压漂移量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；基于系数向量，建立信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；利用无损筛选回归预测方程，对同批其他低压差线性稳压器进行筛选。本发明能够实现在对低压差线性稳压器无损伤的前提下，进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。
-
公开(公告)号：CN106841866A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710063088.5
申请日：2017-01-19
申请人： 深圳市量为科技有限公司
IPC分类号： G01R31/00
CPC分类号： G01R31/001
摘要： 本发明提供了一种脉冲宽度调制器抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取作为随机子样的脉冲宽度调制器辐照前的输出占空比和15Hz噪声点频值；获取作为随机子样的脉冲宽度调制器经过辐照后的输入灌电流；以输出占空比和15Hz噪声点频值作为信息参数，以输入灌电流作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；基于系数向量，建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；利用无损筛选回归预测方程，预测单个脉冲宽度调制器的抗辐照性能，对同批其他脉冲宽度调制器进行筛选。本发明能够实现在对脉冲宽度调制器无损坏的前提下，进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。
-
公开(公告)号：CN106771953A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710063090.2
申请日：2017-01-19
申请人： 深圳市量为科技有限公司
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本发明提供了一种肖特基二极管抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取辐照前作为随机子样的肖特基二极管的反向漏电流、反向击穿电压和噪声电压功率谱幅值；获取经过辐照后的作为随机子样的肖特基二极管的反向漏电流；计算辐照前后的反向漏电流退化量；以反向击穿电压和噪声电压功率谱幅值作为信息参数，以反向漏电流退化量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，估计线性回归方程中的系数向量；建立无损筛选回归预测方程；利用所述无损筛选回归预测方程，预测单个器件的抗辐照性能。本发明能够实现在对肖特基二极管无损坏的前提下，进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
11 条记录 (耗时 0.028 秒)
