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公开(公告)号：CN116738930A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202310790075.3
申请日：2023-06-30
Applicant: 浙江大学滨江研究院
IPC: G06F30/398 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开了一种集成电路可靠性智能计算方法和设备，方法包括以下步骤：生成目标集成电路的失效特征参数表和元件基础失效率，并存储在基础元件库；所述的失效特征参数表包括电子元件的序号、元件名、元件最小类别、下级元件列表、上级元件列表；电子元件的上、下级元件列表按照电流方向；采用计算机搜索算法识别目标集成电路图中的失效环；根据规则由计算机自动判断目标集成电路中各电子元件的失效串并联结构，根据失效环画出失效树并分层，每一层对应失效树的一条支路；计算失效树每一条支路的失效率、失效树的整体失效率以及目标集成电路的可靠度。本发明的方法具有计算效率高、计算精度高、可以进行海量元件组成的电路系统可靠性计算。
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