-
公开(公告)号:CN103014654A
公开(公告)日:2013-04-03
申请号:CN201210576237.5
申请日:2012-12-27
Applicant: 沈阳工程学院
Abstract: 本发明属于压电薄膜材料领域,具体涉及一种AlN/ZnO/InGaN/金刚石/Si多层结构声表面波滤波器件的制备方法。本发明方法是将Si基片清洗后送入热丝化学气相沉积反应室中,在Si基片上沉积100-300nm厚的金刚石膜,送入金属有机化合物化学气相沉淀反应室中,反应室中通入三甲基铟、三甲基镓和氮气,在金刚石/Si基片上沉积厚度为20-100nm的InGaN薄膜,然后向反应室内同时通入携带二乙基锌的氩气和氧气,在InGaN/金刚石/Si基片上沉积20-100nm厚ZnO膜,最终向反应室中通入三甲基铝和氮气,得到AlN/ZnO/InGaN/金刚石/Si多层结构声表面波滤波器件。本发明方法首先在Si基片衬底上沉积制备金刚石薄膜,以有高C轴择优取向的纳米ZnO和InGaN薄膜作为缓冲层,沉积制备平整光滑、结晶度好的高C轴择优取向的优质AlN纳米压电薄膜。
-
公开(公告)号:CN103014654B
公开(公告)日:2014-12-17
申请号:CN201210576237.5
申请日:2012-12-27
Applicant: 沈阳工程学院
Abstract: 本发明属于压电薄膜材料领域,具体涉及一种AlN/ZnO/InGaN/金刚石/Si多层结构声表面波滤波器件的制备方法。本发明方法是将Si基片清洗后送入热丝化学气相沉积反应室中,在Si基片上沉积100-300nm厚的金刚石膜,送入金属有机化合物化学气相沉淀反应室中,反应室中通入三甲基铟、三甲基镓和氮气,在金刚石/Si基片上沉积厚度为20-100nm的InGaN薄膜,然后向反应室内同时通入携带二乙基锌的氩气和氧气,在InGaN/金刚石/Si基片上沉积20-100nm厚ZnO膜,最终向反应室中通入三甲基铝和氮气,得到AlN/ZnO/InGaN/金刚石/Si多层结构声表面波滤波器件。本发明方法首先在Si基片衬底上沉积制备金刚石薄膜,以有高C轴择优取向的纳米ZnO和InGaN薄膜作为缓冲层,沉积制备平整光滑、结晶度好的高C轴择优取向的优质AlN纳米压电薄膜。
-