公开(公告)号：CN100490324C

公开(公告)日：2009-05-20

申请号：CN200510107675.7

申请日：2005-09-29

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 尾﨏一功 ,  赤木哲也 ,  山本拓

IPC: H03K17/28 ,  H01H35/00

CPC classification number: G01V8/20

Abstract: 本发明提供一种多光轴光电传感器，通过对应于确认到相互干涉的状态而调整投受光周期，从而简单且有效地避免干扰光造成的物体的检测错误的发生。本发明中，通过判别发生相互干涉的范围、即检测到干扰光的位置是在投受光动作期间的全部期间中的前半期间还是后半期间，从而决定将相位向前错开还是向后错开。从而变更与确认到干涉光的入射的光轴的位置或者连续确认到的光轴数量对应的期间、预定的下次的同步定时。

公开(公告)号：CN1756078A

公开(公告)日：2006-04-05

申请号：CN200510107675.7

申请日：2005-09-29

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 尾﨏一功 ,  赤木哲也 ,  山本拓

IPC: H03K17/28 ,  H01H35/00

CPC classification number: G01V8/20

Abstract: 本发明提供一种多光轴光电传感器，通过对应于确认到相互干涉的状态而调整投受光周期，从而简单且有效地避免干扰光造成的物体的检测错误的发生。本发明中，通过判别发生相互干涉的范围、即检测到干扰光的位置是在投受光动作期间的全部期间中的前半期间还是后半期间，从而决定将相位向前错开还是向后错开。从而变更与确认到干涉光的入射的光轴的位置或者连续确认到的光轴数量对应的期间、预定的下次的同步定时。