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公开(公告)号:CN108957167B
公开(公告)日:2020-09-18
申请号:CN201810470266.0
申请日:2018-05-16
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了基于环形振荡器的TSV故障测试装置及测试方法,所述装置为:一组顺序连接的奇数个反相器、多路选择器、施密特触发器及与非门,顺序连接的施密特触发器和与非门设置在第一个反相器与第二个反相器之间,多路选择器设置在最后一个反相器与第一个反相器之间,上述部件构成闭合环路,形成环形振荡器结构TSV连接于第一个反相器和施密特触发器之间;所述方法包括:1)激活TSV测试模式;2)测试无故障TSV蒙特卡罗周期;3)获取TSV在开路故障下的蒙特卡罗周期;4)得到周期差;5)对周期差求平方和;6)计算周期差平方和的根值;7)拟合函数,完成测试。这种装置成本低、使用方便、操作灵活。这种方法测试时间短、测试精度高。
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公开(公告)号:CN119906238A
公开(公告)日:2025-04-29
申请号:CN202411943791.1
申请日:2024-12-26
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本申请实施例提供的一种驱动电路、等离子电源电路及等离子体系统,包括:驱动支路;驱动支路包括驱动模块、滤波模块及电源转换模块;驱动模块的第一端接收第一控制信号,驱动模块的第二端与电源转换模块的第一端电连接,驱动模块的第三端与电源转换模块的第二端电连接,驱动模块的第四端接收第一电源信号,驱动模块的输出端与滤波模块电连接;驱动模块,用于根据第一控制信号及第一电源信号感应生成第二控制信号,根据第二控制信号输出驱动信号;滤波模块用于对驱动信号进行滤波处理;电源转换模块的第三端用于接收第二电源信号,电源转换模块用于将第二电源信号转换为第三电源信号并输出。用以提高驱动电路共模瞬态抗扰度。
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公开(公告)号:CN108957167A
公开(公告)日:2018-12-07
申请号:CN201810470266.0
申请日:2018-05-16
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了基于环形振荡器的TSV故障测试装置及测试方法,所述装置为:一组顺序连接的奇数个反相器、多路选择器、施密特触发器及与非门,顺序连接的施密特触发器和与非门设置在第一个反相器与第二个反相器之间,多路选择器设置在最后一个反相器与第一个反相器之间,上述部件构成闭合环路,形成环形振荡器结构TSV连接于第一个反相器和施密特触发器之间;所述方法包括:1)激活TSV测试模式;2)测试无故障TSV蒙特卡罗周期;3)获取TSV在开路故障下的蒙特卡罗周期;4)得到周期差ΔT;5)对每列周期差ΔT求平方和6)计算每列周期差ΔT平方和的根值;7)拟合函数,完成测试。这种装置成本低、使用方便、操作灵活。这种方法测试时间短、测试精度高。
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