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发明公开
分析测试系统以及分析测试方法审中-公开

公开(公告)号：CN119780138A

公开(公告)日：2025-04-08

申请号：CN202411798832.2

申请日：2024-12-06

Applicant: 核工业北京地质研究院

Inventor： 喻翔 , 李伯平 , 王哲 , 侯宗余 , 姬建训 , 郭冬发 , 谭靖

IPC: G01N23/223 , G01N21/71

Abstract: 本申请的实施例涉及测试材料化学性质的技术领域，具体涉及一种分析测试系统以及分析测试方法，其适用于对样品分析测试，分析测试系统包括：激光诱导击穿光谱分析模块设置成确定样品的元素组成及其含量；X‑射线荧光分析模块设置成确定样品的化学属性；激光诱导击穿光谱分析模块和X‑射线荧光分析模块设置成分别与分析测试系统本体固定连接。本申请的实施例通过将激光诱导击穿光谱分析模块和X‑射线荧光分析模块设置成分别与分析测试系统本体固定连接，从而，在单一装置上能够对同一样品在同一腔体内分别进行激光诱导击穿光谱分析与X‑射线荧光分析，确定样品的元素组成、含量及其化学属性，提高样品分析测试结果的准确性与效率。

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