分析装置、分析系统、分析方法和程序

    公开(公告)号:CN110088604A

    公开(公告)日:2019-08-02

    申请号:CN201780078248.1

    申请日:2017-12-20

    Abstract: 本发明提供分析装置、分析系统、分析方法和程序。更高精度地输出与大气中漂浮的颗粒状物质的产生源相关的信号。分析装置(100)包括质量浓度测定部、元素分析部和产生源关联信号输出部。质量浓度测定部测定大气中漂浮的微小颗粒状物质(FP)的质量浓度。元素分析部分析微小颗粒状物质(FP)所含的元素。产生源关联信号输出部基于质量浓度测定部中的质量浓度的测定结果和元素分析部中的微小颗粒状物质(FP)所含的元素的分析结果,输出与微小颗粒状物质(FP)的产生源相关的信号。

    分析装置、分析系统、分析方法、校正方法以及程序

    公开(公告)号:CN116324371A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202180064483.X

    申请日:2021-09-07

    Abstract: 本发明提供分析装置、分析系统、分析方法、校正方法以及程序,能够高精度地分析碳为主要成分的颗粒状物质。分析装置(5、5’)具备流入部(51a)、第一图像取得部(53)、含量信息取得部(54)以及分析部(55a)。流入部(51a)使包含颗粒状物质(FP)的稀释试样气体(DG)流入。第一图像取得部(53)取得在流过流入部(51a)的稀释试样气体(DG)中流动的颗粒状物质(FP)的第一图像数据。含量信息取得部(54)取得与稀释试样气体(DG)中包含的颗粒状物质(FP)的含量有关的含量信息。分析部(55a)根据第一图像数据以及含量信息对颗粒状物质(FP)进行分析。

    分析装置、分析方法和存储介质

    公开(公告)号:CN111380886A

    公开(公告)日:2020-07-07

    申请号:CN201911043416.0

    申请日:2019-10-30

    Abstract: 本发明提供分析装置、分析方法和存储介质。基于与测量对象中包含的碳化合物的量相关的信息,准确地修正与荧光X射线相关的信息。分析装置(100)包括:X射线测量装置(2)、光学特性测量装置(3)和运算部(4)。X射线测量装置(2)检测从测量对象产生的荧光X射线。光学特性测量装置(3)获取测量对象中包含的碳化合物的荧光X射线以外的光学特性。运算部(4)基于碳化合物的光学特性,计算与测量对象中包含的碳化合物的量相关的信息,并且基于与该碳化合物的量相关的信息,修正与由X射线测量装置(2)测量的荧光X射线相关的信息。

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