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公开(公告)号：CN103175845B
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201210380170.8
申请日：2012-10-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开一种能够减小激光产生的热量对主面的影响的缺陷检测方法，包括：定义工序，其中在被检查物的比主面的面积小的侧面上定义多个照射位置，并定义与该多个照射位置分别对应的多个接收位置；接收工序，其中对在所述定义工序中定义的全部所述多个照射位置，进行向所述照射位置照射激光并在与该照射位置对应的所述接收位置接收超声波的工序；以及检测工序，其中基于在所述接收工序中接收到的超声波来检测所述被检查物的缺陷，所述定义工序中，以利用将所述照射位置和与该照射位置对应的所述接收位置分别连结的多条直线在从所述主面侧观察下形成多个交点的方式，定义所述多个照射位置和所述多个接收位置，所述检测工序中，检测所述多个交点的各自的位置上的缺陷。
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公开(公告)号：CN100580853C
公开(公告)日：2010-01-13
申请号：CN200710107472.7
申请日：2007-05-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H01J9/42
CPC classification number: G09G3/2927 , G09G3/006 , G09G3/298 , G09G2330/10
Abstract: 在1个场期间内设置多个具有使初始化放电在放电单元中发生的初始化期间、对放电单元选择性地施加写入脉冲电压以使之发生写入放电的写入期间和在写入期间内使与亮度权重对应的次数的维持放电在所选择的放电单元中发生的维持期间的子场，并驱动包括多个具有在行方向形成的由扫描电极和维持电极构成的显示电极对和在列方向形成的数据电极的放电单元的等离子体显示面板，在规定的子场中对检查对象的放电单元施加写入脉冲电压，在至少上述规定的子场之后的子场中对检查对象的放电单元不施加写入脉冲电压。
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公开(公告)号：CN101071708A
公开(公告)日：2007-11-14
申请号：CN200710107472.7
申请日：2007-05-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H01J9/42
CPC classification number: G09G3/2927 , G09G3/006 , G09G3/298 , G09G2330/10
Abstract: 在1个场期间内设置多个具有使初始化放电在放电单元中发生的初始化期间、对放电单元选择性地施加写入脉冲电压以使之发生写入放电的写入期间和在写入期间内使与亮度权重对应的次数的维持放电在所选择的放电单元中发生的维持期间的子场，并驱动包括多个具有在行方向形成的由扫描电极和维持电极构成的显示电极对和在列方向形成的数据电极的放电单元的等离子体显示面板，在规定的子场中对检查对象的放电单元施加写入脉冲电压，在至少上述规定的子场之后的子场中对检查对象的放电单元不施加写入脉冲电压。
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公开(公告)号：CN103175845A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201210380170.8
申请日：2012-10-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开一种能够减小激光产生的热量对主面的影响的缺陷检测方法，包括：定义工序，其中在被检查物的比主面的面积小的侧面上定义多个照射位置，并定义与该多个照射位置分别对应的多个接收位置；接收工序，其中对在所述定义工序中定义的全部所述多个照射位置，进行向所述照射位置照射激光并在与该照射位置对应的所述接收位置接收超声波的工序；以及检测工序，其中基于在所述接收工序中接收到的超声波来检测所述被检查物的缺陷，所述定义工序中，以利用将所述照射位置和与该照射位置对应的所述接收位置分别连结的多条直线在从所述主面侧观察下形成多个交点的方式，定义所述多个照射位置和所述多个接收位置，所述检测工序中，检测所述多个交点的各自的位置上的缺陷。
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