光盘驱动器、光学存储介质

    公开(公告)号:CN101694774B

    公开(公告)日:2012-07-25

    申请号:CN200910207725.7

    申请日:2003-04-02

    Abstract: 一种光盘驱动装置,包括:光学拾音头,所述光学拾音头将光束发射到光学存储介质上,检测从光学存储介质反射的光束,并基于所接收到的反射光输出信号;以及解调装置,所述解调装置接收从光学拾音头输出的信号,并使用两个阈值再现记录到光学存储介质上的信息由此基于周期T的长度kT的数字数据作为标记或者间隔的序列被记录到记录层,k是2或者更大的整数,2T长数字数据标记的宽度比3T或者更长的数字数据的宽度要窄。

    光记录方法、光记录装置、原盘曝光装置、光学信息记录介质及再现方法

    公开(公告)号:CN102203857A

    公开(公告)日:2011-09-28

    申请号:CN200980115277.6

    申请日:2009-10-05

    Abstract: 本发明提供一种光盘记录方法等,能精密地补偿对光盘介质进行记录或再现时的热干扰和光学符号间干扰。在光记录方法中,通过以多个等级的功率切换激光,将调制之后的记录脉冲列照射在光盘介质上,从而在光盘介质上形成多个标记,利用各标记以及相邻2个标记之间的间隔的边沿位置来记录信息。光记录方法包括:对记录数据进行编码从而制作标记以及间隔的组合即编码数据的步骤;根据标记的标记长度、标记前面的第1间隔的间隔长度以及标记后面的第2间隔的间隔长度的组合,来对编码数据进行分类的步骤;根据分类结果,生成使记录脉冲列的始端边沿位置、终端边沿位置以及脉冲宽度之中的至少一个改变的记录脉冲列的步骤,该记录脉冲列用于形成标记;以及对光盘介质照射所生成的记录脉冲列,在光盘介质上形成多个标记的步骤。

    光盘驱动器、光学存储介质

    公开(公告)号:CN101685641B

    公开(公告)日:2011-09-28

    申请号:CN200910207722.3

    申请日:2003-04-02

    Abstract: 一种光盘驱动装置,包括:光学拾音头,所述光学拾音头将光束发射到光学存储介质上,检测从光学存储介质反射的光束,并基于所接收到的反射光输出信号;以及解调装置,所述解调装置接收从光学拾音头输出的信号,并使用两个阈值再现记录到光学存储介质上的信息由此基于周期T的长度kT的数字数据作为标记或者间隔的序列被记录到记录层,k是2或者更大的整数,2T长数字数据标记的宽度比3T或者更长的数字数据的宽度要窄。

    光学数据记录介质的读取设备和读取方法

    公开(公告)号:CN101950567A

    公开(公告)日:2011-01-19

    申请号:CN201010518025.2

    申请日:2007-05-31

    CPC classification number: G11B7/005 G11B7/1267 G11B19/04 G11B19/28

    Abstract: 读取设备抑制了由提高输出激光功率所导致的记录标记的劣化,提高输出激光功率是为了补偿当以较高速度读取记录在高密度记录介质上的信息时的信噪比下降。为了读取记录在光学数据记录介质上的信息,读取方法将高频电流调制在半导体激光器的驱动电流上,以输出激光束;并根据读取所用的选定线速度,改变光调制率,其中,光学数据记录介质是利用从半导体激光器输出的激光束进行写入和读取的。光调制率是发射激光束光强度的峰值功率Pp和平均读取功率Pave的比值Pp/Pave。

    光盘驱动器、光学存储介质

    公开(公告)号:CN101685641A

    公开(公告)日:2010-03-31

    申请号:CN200910207722.3

    申请日:2003-04-02

    Abstract: 一种光盘驱动装置,包括:光学拾音头,所述光学拾音头将光束发射到光学存储介质上,检测从光学存储介质反射的光束,并基于所接收到的反射光输出信号;以及解调装置,所述解调装置接收从光学拾音头输出的信号,并使用两个阈值再现记录到光学存储介质上的信息由此基于周期T的长度kT的数字数据作为标记或者间隔的序列被记录到记录层,k是2或者更大的整数,2T长数字数据标记的宽度比3T或者更长的数字数据的宽度要窄。

    光盘的检查方法以及光盘介质

    公开(公告)号:CN101681652A

    公开(公告)日:2010-03-24

    申请号:CN200980000222.0

    申请日:2009-02-10

    Abstract: 本发明的光盘的检查方法包含以下步骤:在光盘的第1半径位置、比上述第1半径位置靠内周侧的第2半径位置、和比上述第2半径位置靠内周侧的第3半径位置处,分别以记录速度V1记录数据,并再现已记录的数据,由此来分别测定再现信号的信号品质指标值A、B、C的步骤;在上述第1半径位置和上述第2半径位置处,分别以大于V1的记录速度V2记录数据,并再现已记录的数据,由此来分别测定再现信号的信号品质指标值D、E的步骤;以及根据上述信号品质指标值B以及E的不同来补正上述信号品质指标值C,由此来算出在上述第3半径位置处以上述速度V2记录数据并再现已记录的数据时的信号品质指标值F的步骤。

Patent Agency Ranking