金属带的表面检查装置、表面检查方法及制造方法

    公开(公告)号:CN115867791A

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202180046808.1

    申请日:2021-05-28

    Inventor: 吉田圭佑

    Abstract: 本发明的金属带的表面检查装置具备:第一光源部,向金属带的表面出射光;第一拍摄部,拍摄来自第一光源部的出射光在金属带的表面上的正反射光;第二光源部,向金属带的表面出射与第一光源部的出射光不同的波段的光;第二拍摄部,拍摄来自第二光源部的出射光在金属带的表面上的漫反射光;以及表面缺陷判别部,使用由第一拍摄部拍摄到的正反射光和由第二拍摄部拍摄到的漫反射光,进行金属带的表面缺陷的判别,来自第一光源部的出射光及来自第二光源部的出射光同时照射到金属带的表面的同一位置。

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