光电二极管器件、光敏探测器及检测装置

    公开(公告)号:CN115132872A

    公开(公告)日:2022-09-30

    申请号:CN202210867717.0

    申请日:2022-07-21

    Inventor: 冯宏庆 陈恒

    Abstract: 本申请实施例提供光电二极管器件、光敏探测器及检测装置。该器件包括半导体衬底、第一掺杂区、第二掺杂区、第三掺杂区以及第一电极。半导体衬底包括相对的第一表面和第二表面。第一掺杂区位于半导体衬底内,第一掺杂区与半导体衬底形成第一PN结。第二掺杂区位于第一掺杂区内。第二掺杂区与第一掺杂区的导电型不同。第三掺杂区位于第二掺杂区内。第三掺杂区与第二掺杂区形成第二PN结。第一电极设置于第三掺杂区远离第二表面的一侧,且与第三掺杂区电连接,第一电极用于和半导体衬底之间形成第一电场。第一电场分布于第一电极和半导体衬底之间,因而电子和空穴受到的电场力较大,漂移速度相对较快,提高了载流子的收集效率。

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