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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111551150A
公开(公告)日：2020-08-18
申请号：CN202010296882.6
申请日：2020-04-15
Applicant: 杭州东信北邮信息技术有限公司
Abstract: 一种自动测量基站天线参数的方法和系统，包括：飞行采集装置以基站抱杆为圆点飞行一周，并将采集的视频流传给天线参数测量装置；天线参数测量装置将视频流输入目标跟踪分析模型，输出跟踪到的所有天线目标信息；继续将每个天线目标的天线目标信息输入目标截图筛选模型，输出由每个天线目标在正侧面->正面->正侧面这一过程的所有目标截图所构成的一个目标截图序列；再将每个天线目标的目标截图序列中的每张目标截图输入至目标轮廓拟合模型，并输出每张目标截图中天线目标的轮廓信息；根据每个天线目标的目标截图序列中的所有目标截图及轮廓信息，计算每个天线目标的参数。本发明属于信息技术领域，能有效提高自动测量精度，并避免外部干扰。
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公开(公告)号：CN111445511A
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN202010212037.6
申请日：2020-03-24
Applicant: 杭州东信北邮信息技术有限公司
Abstract: 一种图像中圆的检测方法，包括：将图像转为灰度图；提取灰度图的边缘点，生成第一边缘轮廓图；对第一边缘轮廓图进行形态学闭运算和腐蚀运算，获得第二边缘轮廓图；提取第二边缘轮廓图中的边缘点，生成第三边缘轮廓图；计算第三边缘轮廓图中的每条边缘轮廓的最小外接矩形的宽高比和轮廓程度值，当值均在阈值范围内时，将其写入边缘轮廓组；将边缘轮廓组中的所有边缘轮廓拟合成圆，并计算拟合圆心坐标和半径；构建边缘点组，计算灰度图中的每个边缘点和拟合圆心距离，当距离和拟合圆半径误差在n个像素内时，将其写入边缘点组；将边缘点组中的边缘点拟合成最终的圆。本发明属于图像处理领域，能有效提高对复杂纹理环境下圆的检测准确度。
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公开(公告)号：CN111445510A
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN202010211840.8
申请日：2020-03-24
Applicant: 杭州东信北邮信息技术有限公司
Abstract: 一种图像中直线的检测方法，包括：将图像ROI子图转为灰度图；计算ROI子图中每个像素点在x、y方向的梯度值，构成梯度矩阵dx、dy；计算梯度方向角矩阵da；提取ROI子图中的所有边缘点；从梯度方向角矩阵da中提取所有边缘点的梯度方向角，构成梯度方向数组arrAngs；将角度区间[0，360]以n为间隔平均分割成若干子区间，然后将arrAngs中每个边缘点的梯度方向角划分至对应子区间内，统计每个子区间的边缘点的梯度方向角数量，最后读取数量最大的子区间的所有边缘点；将读取的所有边缘点拟合成一条直线。本发明属于图像处理领域，能在具有复杂纹理背景的图像ROI区域里，高效准确的检测出长度最长的目标直线。
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公开(公告)号：CN111445511B
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202010212037.6
申请日：2020-03-24
Applicant: 杭州东信北邮信息技术有限公司
Abstract: 一种图像中圆的检测方法，包括：将图像转为灰度图；提取灰度图的边缘点，生成第一边缘轮廓图；对第一边缘轮廓图进行形态学闭运算和腐蚀运算，获得第二边缘轮廓图；提取第二边缘轮廓图中的边缘点，生成第三边缘轮廓图；计算第三边缘轮廓图中的每条边缘轮廓的最小外接矩形的宽高比和轮廓程度值，当值均在阈值范围内时，将其写入边缘轮廓组；将边缘轮廓组中的所有边缘轮廓拟合成圆，并计算拟合圆心坐标和半径；构建边缘点组，计算灰度图中的每个边缘点和拟合圆心距离，当距离和拟合圆半径误差在n个像素内时，将其写入边缘点组；将边缘点组中的边缘点拟合成最终的圆。本发明属于图像处理领域，能有效提高对复杂纹理环境下圆的检测准确度。
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公开(公告)号：CN111551150B
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202010296882.6
申请日：2020-04-15
Applicant: 杭州东信北邮信息技术有限公司
Abstract: 一种自动测量基站天线参数的方法和系统，包括：飞行采集装置以基站抱杆为圆点飞行一周，并将采集的视频流传给天线参数测量装置；天线参数测量装置将视频流输入目标跟踪分析模型，输出跟踪到的所有天线目标信息；继续将每个天线目标的天线目标信息输入目标截图筛选模型，输出由每个天线目标在正侧面‑>正面‑>正侧面这一过程的所有目标截图所构成的一个目标截图序列；再将每个天线目标的目标截图序列中的每张目标截图输入至目标轮廓拟合模型，并输出每张目标截图中天线目标的轮廓信息；根据每个天线目标的目标截图序列中的所有目标截图及轮廓信息，计算每个天线目标的参数。本发明属于信息技术领域，能有效提高自动测量精度，并避免外部干扰。
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