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公开(公告)号：CN118960541A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411436664.2
申请日：2024-10-15
Applicant: 无锡学院
IPC: G01B7/06
Abstract: 本发明提供了一种暂稳双态响应的带表面覆盖层的金属厚度测量方法，涉及金属几何尺寸测量领域。该测量方法通过脉冲电流激励，线圈磁通会出现正脉冲与负脉冲响应，随着金属厚度增加，正脉冲响应上升速度和负脉冲响应下降速度会逐渐降低并且逐渐稳定。基于以上规律，提出脉冲激励响应正脉冲、负脉冲响应稳态值的金属厚度测量方法，脉冲响应瞬态响应过渡特征点的暂稳双态相结合的金属厚度测量方法，双探头脉冲响应平稳区的金属厚度测量方法。本发明揭示磁通量暂稳双态响应与金属厚度的内在关联，构建金属厚度属性的特征表征方法和参数，具有测量精准度高、误差小、响应快、简单方便等优点，在金属表面有覆盖层时优点尤为明显。
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