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公开(公告)号:CN109545760B
公开(公告)日:2020-05-26
申请号:CN201811227037.2
申请日:2018-10-22
Applicant: 复旦大学
IPC: H01L23/367 , H01L29/10 , H01L29/43 , H01L21/335 , H01L29/778
Abstract: 本发明属于半导体技术领域,本发明为栅镇流结构的射频AlGaN/GaN HEMTs器件及其制备方法。其器件包括SiC上AlGaN/GaN衬底、栅极、源极和漏极;栅极为掺杂多晶硅,方阻在20~40Ω/□之间。本发明利用掺杂的多晶硅作为栅,势垒高度高,可获得比传统Ni/Au肖特基栅更小的栅漏电,降低射频功率器件的功耗,提高效率。另外,掺杂的多晶硅栅有较低的Rg,起到镇流电阻的作用。本发明可用于多指栅器件AlGaN/GaN HEMTs,可通过调整Lg长度,达到优化Wg长度的目的,从而有效改善器件的散热,也可应用于AlGaN/GaN MIS‑HEMTs,多晶硅栅可被偏置更宽的Vgs摆幅。
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公开(公告)号:CN109545760A
公开(公告)日:2019-03-29
申请号:CN201811227037.2
申请日:2018-10-22
Applicant: 复旦大学
IPC: H01L23/367 , H01L29/10 , H01L29/43 , H01L21/335 , H01L29/778
Abstract: 本发明属于半导体技术领域,本发明为栅镇流结构的射频AlGaN/GaN HEMTs器件及其制备方法。其器件包括SiC上AlGaN/GaN衬底、栅极、源极和漏极;栅极为掺杂多晶硅,方阻在20~40Ω/□之间。本发明利用掺杂的多晶硅作为栅,势垒高度高,可获得比传统Ni/Au肖特基栅更小的栅漏电,降低射频功率器件的功耗,提高效率。另外,掺杂的多晶硅栅有较低的Rg,起到镇流电阻的作用。本发明可用于多指栅器件AlGaN/GaN HEMTs,可通过调整Lg长度,达到优化Wg长度的目的,从而有效改善器件的散热,也可应用于AlGaN/GaN MIS-HEMTs,多晶硅栅可被偏置更宽的Vgs摆幅。
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公开(公告)号:CN108649069A
公开(公告)日:2018-10-12
申请号:CN201810357349.9
申请日:2018-04-20
Applicant: 复旦大学
IPC: H01L29/778 , H01L21/335 , H01L29/417
Abstract: 本发明属于半导体器件技术领域,具体为漏扩展结构的射频GaN/AlGaN器件及其制备方法。本发明的漏扩展结构的射频GaN/AlGaN器件包括:衬底、GaN/AlGaN叠层结构、源极、栅极和漏扩展结构;其中,漏扩展结构的一部分形成于GaN层上,并与所述GaN/AlGaN叠层的侧面相接触,另一部分与AlGaN层上表面间形成有绝缘介质层。本发明采用低阻的硅化物薄膜作为漏极引线,不仅缩小了有源区,而且重构了电流通道,避免了二维电子气需要翻越高势垒的AlGaN/GaN异质结才能被漏电极抽取走的状况,从而使射频GaN/AlGaN器件获得更好的直流参数、高频线性参数等。
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