一种对AMOLED进行外部光学补偿的方法及装置

    公开(公告)号:CN107507571B

    公开(公告)日:2019-09-27

    申请号:CN201710749894.8

    申请日:2017-08-28

    Abstract: 本发明提供了一种对AMOLED进行外部光学补偿的方法,包括以下步骤:S1、对AMOLED采集的图像来测量显示屏的像素与像素间的发光亮度差异性;S2、根据Gamma曲线所描叙的发光亮度—灰阶标准特性,对驱动电流进行调整。本发明还提供了一种对AMOLED进行外部光学补偿的装置。本发明的有益效果是:提高了补偿亮度测量的精确度,补偿效果较佳,适用于大尺寸AMOLED检测。

    耦合波导阵列中的无损耗传输模式设计方法

    公开(公告)号:CN107346060A

    公开(公告)日:2017-11-14

    申请号:CN201710425180.1

    申请日:2017-06-07

    CPC classification number: G02B27/0012 G02B6/1225

    Abstract: 本发明提出了一种波导耦合阵列中的无损传输模式的设计方法。该波导阵列的基本单元是由圆柱介电波导(包含增益或损耗)结构组成的,在初始某个波导模式的激发下,能量会耦合进入相邻波导模式中,并在整个传输过程中相互耦合发生干涉从而沿着波导传输。通过耦合模理论和有限元数值仿真的方法,本发明给出了本征模式的实部和虚部关于材料增益、损耗的函数关系,以及初始条件激发下能量随着传播距离的变化情况,以及无损传输的条件。利用宇称-时间对称的概念,借助耦合波导阵列结构,通过增益/损耗的非均匀分布分布,材料损耗的增加反而有助于波导模式的无损传输。本发明对于微纳光学器件的设计以及能量无损传输提供了一种理论基础和参考标准。

    一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN107705290B

    公开(公告)日:2021-07-02

    申请号:CN201710792457.4

    申请日:2017-09-05

    Abstract: 本发明提供了一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法,首先对AMOLED显示屏Mura图像采用均值漂移算法进行预分割,得到水平集算法所需的初始轮廓,然后再采用结合了图像的局部和全局信息的水平集算法对AMOLED显示屏Mura图像进行分割。本发明的有益效果是:解决了局部图像模型对初始轮廓敏感的问题,同时所提出的水平集算法结合了图像的局部和全局信息,解决了全局图像模型不能处理灰度不均图像的问题。

    一种对AMOLED进行外部光学补偿的方法及装置

    公开(公告)号:CN107507571A

    公开(公告)日:2017-12-22

    申请号:CN201710749894.8

    申请日:2017-08-28

    Abstract: 本发明提供了一种对AMOLED进行外部光学补偿的方法,包括以下步骤:S1、对AMOLED采集的图像来测量显示屏的像素与像素间的发光亮度差异性;S2、根据Gamma曲线所描叙的发光亮度—灰阶标准特性,对驱动电流进行调整。本发明还提供了一种对AMOLED进行外部光学补偿的装置。本发明的有益效果是:提高了补偿亮度测量的精确度,补偿效果较佳,适用于大尺寸AMOLED检测。

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