公开(公告)号：CN118566292A

公开(公告)日：2024-08-30

申请号：CN202410452381.0

申请日：2024-04-16

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 王飞 ,  杜启后 ,  房泽邦 ,  刘俊岩 ,  孟祥林 ,  宋鹏 ,  陈明君 ,  岳洪浩 ,  宋英豪 ,  陈家烨 ,  周玉龙 ,  何明键 ,  齐宏

IPC: G01N25/72 ,  G01J5/48 ,  G01J5/0803 ,  G01J5/00

Abstract: 本发明公开了一种增材制造过程多源热波断层成像监测系统及方法，其中系统包括：计算机(1)、红外热像仪(6)、高功率激光器电源(17)、激光振镜(25)、SLM设备(27)和高性能函数发生器(29)。本发明融合单振镜多激光复用技术、高背景热环境噪声抑制以及直流及交流多宗量特征信息提取等多方面技术领域，相比较与传统的被动式热成像而言，具有高分辨以及大探测深度的优势，相比较与传统主动式热成像而言，具有高效率的优势，同时该方法通过振镜光路共享，提高了设备利用率。

公开(公告)号：CN119619014A

公开(公告)日：2025-03-14

申请号：CN202411731050.7

申请日：2024-11-29

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 王飞 ,  岳卓言 ,  刘俊岩 ,  陈家烨 ,  王永辉 ,  宋鹏 ,  孟祥林 ,  何明键 ,  齐宏 ,  陈明君 ,  岳洪浩

IPC: G01N21/19 ,  G01N21/84 ,  G01N21/01 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明提出了一种基于左、右旋偏振调制的Fe3O4纳米颗粒显微成像检测方法，属于光热科学与探测及信号处理技术领域，解决了目前纳米单颗粒难以观测、物理化学特性获取难度大的问题，具体包括：明确待检测样品，制备玻片样品；开启计算机、数据采集卡、锁相放大器、振镜控制器和函数发生器；开启激发光、探测光激光器电源以及制冷器；设置检测参数，设置激光功率/电流参数，设置调制参数，对检测样件进行扫描检测；加载磁场；计算机从数据采集卡中读取信号得到光热检测结果图像；改变不同的激光参数和磁场大小，重复上述步骤，获得圆二色、磁圆二色检测结果，进行磁化曲线测量以及对单纳米颗粒磁矩翻转过程监测。