公开(公告)号：CN102096052A

公开(公告)日：2011-06-15

申请号：CN201010593649.0

申请日：2010-12-17

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 曹喜滨 ,  杨勇 ,  王肃文 ,  张锦绣 ,  张世杰 ,  兰盛昌 ,  李梦立

IPC: G01R33/12

Abstract: 三维低温超导薄膜线圈超导特性测试设备与测试方法，本发明属于低温超导技术及高精度测量领域，它特指针对三维低温超导薄膜线圈进行超导特性测试，依靠本发明的低温环境系统和真空环境系统所提供的真空低温环境，测试研究三维低温超导薄膜线圈的超导特性，进而辅助设计三维超导薄膜线圈。本发明设计了一套低温系统，测试三维低温超导薄膜线圈的超导特性，因此一定需要为超导线圈提供一个低温环境，如背景技术中所述，本发明的低温环境利用液氦作为制冷剂，使测试系统工作温度达到4.2K，即-269℃。因此，由于测试的三维低温超导薄膜线圈是美国宇航局与欧洲空间局联合研制的STEP卫星有效载荷中的核心零件，因此从技术应用角度，属于应用航天科学与技术。

公开(公告)号：CN102096052B

公开(公告)日：2012-11-21

申请号：CN201010593649.0

申请日：2010-12-17

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 曹喜滨 ,  杨勇 ,  王肃文 ,  张锦绣 ,  张世杰 ,  兰盛昌 ,  李梦立

IPC: G01R33/12

Abstract: 三维低温超导薄膜线圈超导特性测试设备与测试方法，本发明属于低温超导技术及高精度测量领域，它特指针对三维低温超导薄膜线圈进行超导特性测试，依靠本发明的低温环境系统和真空环境系统所提供的真空低温环境，测试研究三维低温超导薄膜线圈的超导特性，进而辅助设计三维超导薄膜线圈。本发明设计了一套低温系统，测试三维低温超导薄膜线圈的超导特性，因此一定需要为超导线圈提供一个低温环境，如背景技术中所述，本发明的低温环境利用液氦作为制冷剂，使测试系统工作温度达到4.2K，即-269℃。因此，由于测试的三维低温超导薄膜线圈是美国宇航局与欧洲空间局联合研制的STEP卫星有效载荷中的核心零件，因此从技术应用角度，属于应用航天科学与技术。