公开(公告)号：CN101806917A

公开(公告)日：2010-08-18

申请号：CN201010123941.6

申请日：2010-03-15

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 翟国富 ,  唐晓庆 ,  王世成 ,  王国涛 ,  张龙 ,  陈金豹 ,  乌英嘎 ,  陈蕊 ,  张昆 ,  胡彪 ,  邢通

IPC: G01V1/00 ,  G01M7/02 ,  G01N19/08

Abstract: 基于随机振动的密封电子元器件多余物的检测装置及方法，涉及密封电子元器件多余物的检测装置及方法。它解决了密封电子元器件多余物检测装置和方法由于采用定频的正弦振动导致不能发挥检测设备的最佳检测能力的问题。其装置：它的波形发生模块接受智能控制模块的随机波形数据形成指定频带的随机波形驱动振动台。其方法：智能控制模块实时采集振动台的加速度信号，进行功率谱估计并与参考谱比较和频谱均衡，均衡后的功率谱经过相位随机化后进行逆傅里叶变换，经时域随机化后送入波形发生电路输出并加载至振动台，重复执行实现闭环控制。本发明适用于密封电子元器件多余物的检测过程中。