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公开(公告)号:CN118870155A
公开(公告)日:2024-10-29
申请号:CN202410904643.2
申请日:2024-07-08
Applicant: 吉林大学
Abstract: 基于光电导效应的阴影触发量子光学成像系统,属于光学系统技术领域和半导体感光技术领域,包括照相机镜头模组、感光系统转动系统、感光系统、激光准直系统、激光发射系统、电刷系统、激光发射系统底座、电磁阻尼系统以及底座;所述感光系统为圆形,分为两层,上层为滤光层,包括滤光片,以及设置在滤光片外圈的导体圈;下层为半导体与遮光片镶嵌层,包括半导体线、感光片、阴影传动装置以及电极。本发明采用了一种新型感光系统,利用感光晶体上各处光子概率分布而产生的电导率分布,通过连续测量感光系统不同位置的电导率获得感光片上光子概率分布进行成像;可实现将线形感光晶体旋转足够多次数后,达到二维平面纳米级别采样单元的成像。
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公开(公告)号:CN119715273A
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202411907875.X
申请日:2024-12-24
Applicant: 吉林大学
Abstract: 本发明公开了一种颗粒物质平均粒径的测量方法,属于粒径测量技术领域,包括选择竖直放置的圆柱形平底筒仓,其底部带有可调直径的圆孔,筒仓直径大于圆孔直径的2.5倍;将颗粒物质混匀后装载入筒仓,颗粒堆积高度大于筒仓直径的1.2倍;设置圆孔直径的最大值Dmax作为定标直径D0,并测量对应的颗粒流量Q0作为定标流量;调整圆孔直径到不同的设定值D,对每个D值,测量单位时间内流出的颗粒质量Q,并记录数据;对测量得到的Q值进行归一化处理,计算q=Q/Q0,并构建q‑D关系图;使用软件拟合q‑D关系图,即可计算颗粒的平均粒径。该方法具有稳定性好、成本低廉、操作简便等优点。
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公开(公告)号:CN117705261A
公开(公告)日:2024-03-15
申请号:CN202311722405.1
申请日:2023-12-14
Applicant: 吉林大学
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明提供一种基于瑞丽盘原理的大量程自动化声级测量装置及方法,装置,包括底座、水平管、竖直管、反光圆盘、激光发射器、水平位移组件、光电传感器、温度计、控制系统;测量步骤包括:(1)校零;(2)选择合适管长;(3)测量声场强度;本发明在前人研发的瑞利盘声强测量装置的基础上,改进了测量原理,大大增加了声强测量的量程,并且使得测量频率连续化;本发明能够将直接测量的物理量转换为声强;本发明提升装置封闭性,使其便于移动,提高适用性;本发明提升了自动化水平,大大提高了数据采集速度。
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