公开(公告)号：CN112785563B

公开(公告)日：2022-05-13

申请号：CN202110045898.4

申请日：2021-01-14

Applicant: 吉林大学

Inventor： 玄玉波 ,  赵增君 ,  何群山 ,  杜文聪 ,  俞冯宁

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/764 ,  G06V10/77 ,  G06V10/774 ,  G06K9/62 ,  G06F17/16

Abstract: 本发明属于缺陷检测技术领域，具体涉及一种基于Zernike矩的热电偶质量检测方法，包括：采集热电偶的图像并进行预处理，将预处理后图像的Zernike矩作为特征，将特征进行定维映射和主成份分析后进行机器学习训练得到检测模型，用得到的模型对待检测的热电偶进行合格和不合格的分类检测，有效自动识别热电偶焊接成形缺陷，克服人工检测的耗费人力大，时间长，检测精度易受主观影响的缺点。

公开(公告)号：CN115471567A

公开(公告)日：2022-12-13

申请号：CN202210979289.0

申请日：2022-08-16

Applicant: 吉林大学

Inventor： 玄玉波 ,  何群山 ,  何厚良 ,  陈庆华 ,  郭校源

IPC: G06T7/80 ,  G06T7/66 ,  G02B21/36

Abstract: 本发明提出了一种基于LED阵列照明的显微成像系统位置标校方法。在不放置样本的情况下，采集图像提取渐晕圆圆弧，并通过圆拟合获得其半径及对应圆心坐标。建立图像坐标系。建立LED阵列照明坐标系。拟合各LED照明对应图像中心计算LED阵列照明坐标系的相对于图像坐标系的偏转角θ。根据LED照明下各图像中心坐标计算得到中心LED照明对应的图像中心坐标。渐晕圆圆周可视为孔径角区域，结合拟合的渐晕圆像素半径，计算得到LED阵列平面到物面的像素高度。对各LED照明对应入射角建立等式，可计算得到LED阵列平面到物面的实际高度h，和中心LED照明单元相对于光轴的XY位置偏移difx、dify。本发明实现照明波矢的校正，消除系统位置误差影响，以此提升傅里叶叠层成像效果。

公开(公告)号：CN112785563A

公开(公告)日：2021-05-11

申请号：CN202110045898.4

申请日：2021-01-14

Applicant: 吉林大学

Inventor： 玄玉波 ,  赵增君 ,  何群山 ,  杜文聪 ,  俞冯宁

IPC: G06T7/00 ,  G06K9/62 ,  G06F17/16

Abstract: 本发明属于缺陷检测技术领域，具体涉及一种基于Zernike矩的热电偶质量检测方法，包括：采集热电偶的图像并进行预处理，将预处理后图像的Zernike矩作为特征，将特征进行定维映射和主成份分析后进行机器学习训练得到检测模型，用得到的模型对待检测的热电偶进行合格和不合格的分类检测，有效自动识别热电偶焊接成形缺陷，克服人工检测的耗费人力大，时间长，检测精度易受主观影响的缺点。