一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法

    公开(公告)号:CN103278540B

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201310148893.X

    申请日:2013-04-25

    Abstract: 本发明提供了一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法,包括:将待测的高压绝缘子表面均匀分区,在每个区域任意选取一处作为测量点;消除测量点处的憎水性;在消除憎水性后的测量点处喷一层水膜;测量测量点处的局部表面电导率;根据多个所述测量点处的局部表面电导率,得到平均局部表面电导率;根据所述平均局部表面电导率得到绝缘子的等值盐密值。本发明提供的方法,实现了在不破坏绝缘子污层结构的条件下,对具有强憎水性表面的绝缘子等值盐密进行测量,使得研究人员能够对相同的测试点进行长期的等值盐密测量,便于总结污秽积累的规律;并且该测量方法避免了其他方法在运输过程中带来的误差,提高了测量的准确性。

    一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法

    公开(公告)号:CN103278540A

    公开(公告)日:2013-09-04

    申请号:CN201310148893.X

    申请日:2013-04-25

    Abstract: 本发明提供了一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法,包括:将待测的高压绝缘子表面均匀分区,在每个区域任意选取一处作为测量点;消除测量点处的憎水性;在消除憎水性后的测量点处喷一层水膜;测量测量点处的局部表面电导率;根据多个所述测量点处的局部表面电导率,得到平均局部表面电导率;根据所述平均局部表面电导率得到绝缘子的等值盐密值。本发明提供的方法,实现了在不破坏绝缘子污层结构的条件下,对具有强憎水性表面的绝缘子等值盐密进行测量,使得研究人员能够对相同的测试点进行长期的等值盐密测量,便于总结污秽积累的规律;并且该测量方法避免了其他方法在运输过程中带来的误差,提高了测量的准确性。

    一种绝缘子局部表面电导率测量探头装置

    公开(公告)号:CN203299275U

    公开(公告)日:2013-11-20

    申请号:CN201320217781.0

    申请日:2013-04-25

    Abstract: 本实用新型提供了一种绝缘子局部表面电导率测量探头装置,包括:绝缘套管、电缆、弹性部件、绝缘介质、内电极和外电极;外电极的内表面固定于绝缘介质上,并同轴的套在内电极外;弹性部件的一端与内电极相连接,另一端与电缆相连接,内电极与电缆中的一根线芯相连接,电缆中的另一根线芯与外电极相连接;绝缘套管套在电缆、弹性部件、绝缘介质、内电极和外电极外部;外电极在轴向方向上,由绝缘套管内部向外延伸出边缘,内电极在轴向方向上,由外电极内部向外延伸出边缘。本实用新型提供的技术方案,通过采用同轴圆柱电极,保证电流只在两电极间流过,同时在电极内部安装弹簧,保证内外电极与待测表面有很好的接触,提高了测量的稳定性与精度。

Patent Agency Ranking