公开(公告)号：CN105784317A

公开(公告)日：2016-07-20

申请号：CN201610162028.4

申请日：2016-03-21

Applicant: 南京信息工程大学

Inventor： 陈云云 ,  赵德林 ,  钟霞 ,  胡永正

IPC: G01M9/06

CPC classification number: G01M9/06

Abstract: 本发明提供了一种双波长光学系统。所述双波长光学系统包括探测光源组件、等离子体流场、莫尔条纹生成组件、第一图像传感器、第二图像传感器和同步外触发器，所述探测光源组件提供分别具有第一波长和第二波长的第一光束和第二光束，所述第一光束和所述第二光束穿过所述等离子体流场，并分别在所述莫尔条纹生成组件内形成第一莫尔条纹和第二莫尔条纹；所述第一图像传感器和所述第二图像传感器分别与所述同步外触发器电连接，并分别记录所述第一莫尔条纹和所述第二莫尔条纹，所述同步外触发器接收并根据所述第一莫尔条纹和所述第二莫尔条纹计算所述等离子体流场的电子数密度。本发明还提供一种等离子体流场的电子数密度测量方法。

公开(公告)号：CN105842197A

公开(公告)日：2016-08-10

申请号：CN201610160869.1

申请日：2016-03-21

Applicant: 南京信息工程大学

Inventor： 陈云云 ,  邵绍峰 ,  于洋 ,  钟霞

IPC: G01N21/45

CPC classification number: G01N21/45

Abstract: 本发明提供了一种发光流场的诊断系统。所述发光流场的诊断系统包括沿光轴依次直线排列的探测光源、发光流场和莫尔条纹生成装置，以及分别与计算机通信连接的第一图像传感器和第二图像传感器；所述探测光源提供的光束经过所述发光流场，并在所述莫尔条纹生成装置中形成莫尔条纹，所述第一图像传感器记录所述发光流场的亮度分布，所述第二图像传感器记录所述莫尔条纹生成装置中形成的莫尔条纹，并根据所述亮度分布得到所述发光流场的立体结构显示和根据所述莫尔条纹得到所述发光流场的立体折射率分布。本发明还提供一种发光流场的结构显示和参数测量方法。