公开(公告)号：CN113837598A

公开(公告)日：2021-12-24

申请号：CN202111110173.5

申请日：2021-09-18

Applicant: 北京精密机电控制设备研究所

Inventor： 张建芳 ,  姜国明 ,  雷星 ,  陶小岩 ,  周媛

IPC: G06Q10/06 ,  G06Q10/10 ,  G06Q50/04 ,  G01B21/00

Abstract: 本发明提供了一种基于智能制造的信息获取方法，包括：S10编制检验规划；S20自动采集测量数据，自动采集测量数据采用将测量仪器与终端电连接，通过测量仪器与终端自动获取测量要素，测量数据采集至数字化检测管理系统；S30自动生成检验单据；S40对测量数据进行统计分析。本发明的技术方案有效地解决了现有技术中的检验员在测量零件的时候费时费力的问题。

公开(公告)号：CN117128855A

公开(公告)日：2023-11-28

申请号：CN202310945229.1

申请日：2023-07-28

Applicant: 北京精密机电控制设备研究所

Inventor： 张建芳 ,  王飚 ,  雷星 ,  薛皓月 ,  武喜美

IPC: G01B11/00 ,  G01B11/12 ,  G01B11/24

Abstract: 本发明提供了一种精密零件自动找正装置及方法，包括负载平台、可移动拍摄组件、测头组件和上位机；负载平台装卡零件并带动零件旋转；可移动拍摄组件对零件进行俯视拍照，获得零件上被测孔位置；测头组件对零件被测孔测量；上位机接收零件图片，基于零件被测孔、测头在图片中的位置确定被测孔与测头的位置偏差，进而控制负载平台带动零件旋转至被测孔与测头所在位置重合。本发明基于视觉识别算法实施零件自动找正，提高了检测效率和找正过程的自动化水平，降低了对检验员的检验技能要求。

公开(公告)号：CN113837598B

公开(公告)日：2024-04-16

申请号：CN202111110173.5

申请日：2021-09-18

Applicant: 北京精密机电控制设备研究所

Inventor： 张建芳 ,  姜国明 ,  雷星 ,  陶小岩 ,  周媛

IPC: G06Q10/10 ,  G06Q10/0639 ,  G06Q50/04 ,  G01B21/00

Abstract: 本发明提供了一种基于智能制造的信息获取方法，包括：S10编制检验规划；S20自动采集测量数据，自动采集测量数据采用将测量仪器与终端电连接，通过测量仪器与终端自动获取测量要素，测量数据采集至数字化检测管理系统；S30自动生成检验单据；S40对测量数据进行统计分析。本发明的技术方案有效地解决了现有技术中的检验员在测量零件的时候费时费力的问题。