公开(公告)号：CN117189930A

公开(公告)日：2023-12-08

申请号：CN202310981631.5

申请日：2023-08-04

Applicant: 北京精密机电控制设备研究所

Inventor： 程相 ,  仇立波 ,  徐超 ,  蔡存坤 ,  李凤伟 ,  袁瑞贤 ,  傅思阳

IPC: F16K31/06

Abstract: 一种吸合分压低发热直流电磁铁，线圈绕制于骨架上，安装于壳体和端盖形成的圆柱腔体内，并在线圈与壳体间设有弹性环氧树脂胶层；上导磁体、导磁环、隔磁环、下导磁体组装焊接后形成磁芯管，穿于导磁线圈组件内部，与紧固螺母通过螺纹结构将导磁线圈组件固定；通过弹簧护筒、承压插座和紧固螺母将静压环固定于上导磁体内部；分离器由复位弹簧预压至上导磁体底部，分离器上的撞叶结构穿出上导磁体底部；短通弹簧安装于动压环、承压插座和弹簧护筒形成的腔体内部；动压环、静压环、线圈通过导线连接至承压插座；承压插座和上导磁体之间设有密封橡胶圈；均压衔铁安装于磁芯管内部，并通过预设弹簧及应用阀门的机械接口预设电磁铁工作气隙。

公开(公告)号：CN117629618A

公开(公告)日：2024-03-01

申请号：CN202311509164.2

申请日：2023-11-13

Applicant: 北京精密机电控制设备研究所

Inventor： 程相 ,  孟健 ,  仇立波 ,  傅思阳 ,  刘迪 ,  李凤伟 ,  徐学明

IPC: G01M13/003 ,  G01R33/12 ,  G01R31/327

Abstract: 一种两位两通电磁开关阀的寿命测试系统及方法，属于机电技术领域。本发明通过一台设备同时对两台产品同时进行寿命测试，实现了寿命测试耗费时间过长的问题，且有效的控制了寿命测试环境的一致性，提高了寿命测试的准确性；本发明通过在寿命测试系统中多引入了一台待测产品，借助待测产品自身的产品性能，主动启闭和被动启闭的搭配测试，实现了多工况考核的需求下，测试设备的原理和器件的简化，降低了寿命试验对测试设备的寿命和可靠性要求。