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公开(公告)号：CN114370819A
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202210151387.5
申请日：2022-02-16
Applicant: 北京市计量检测科学研究院(北京市能源计量监测中心)
Abstract: 本发明公开了一种便携式光学三维扫描设备校准装置及其使用方法，其中装置包括一体式金属框架、夹持架，校准球棒；夹持架的一端与一体式金属框架拆卸连接，夹持架的另一端夹持校准球棒；夹持架包括H形架体，H形架体的上端设置有第一固紧结构，H形架体的下端设置有第二固紧结构；该便携式光学三维扫描设备校准装置，可配合各种距离尺寸的校准球棒，便于调整不同的尺寸参数，适用于不同扫描范围的光学三维扫描设备，能够全面有效的对光学三维扫描设备进行校准，装置结构简单便携，制造成本低，稳定性好，便于现场检测。
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公开(公告)号：CN106404168B
公开(公告)日：2018-01-23
申请号：CN201610859483.X
申请日：2016-09-29
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
Abstract: 本专利公开了一种获得激光功率计不同波长修正系数的方法。通过测量功率计某一波长下的修正系数，并结合测量功率计探测器光谱相应曲线，来获得不同波长下功率计的修正系数，使其能用于其相应范围内各种波长激光的功率准确测量。本发明的有益效果是：该项目研究成果为激光功率计使用单位提供一种获得不同光源下修正系数的方法，减少其在不同波长下的校准工作量，降低校准成本；避免了只能用于被校准波长的局限性，扩大激光功率计精准测量的工作范围；弥补了校准用激光源个数有限的不足，为新型波长激光源的准确测量提供了可能性，在激光功率精准测量领域具有重要意义。
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公开(公告)号：CN105092215A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201510483974.4
申请日：2015-08-10
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了非色散原子荧光激发光源杂质检测装置。所述装置包括：暗箱机壳、光源固定支架、光源电控装置、透镜、衰减窗、紫外光谱探测部件和主机处理器。暗箱机壳关闭后无杂散光进入，安装结构固定被测光源，有螺丝和压片可根据被测灯作适当调节，根据光源的不同强度配合使用透镜和衰减窗，有电脑处理器处理检测数据，能够直接给出光源是否含杂和杂质元素的确认等测试结果。本发明的有益效果是：该项目研究成果为非色散原子荧光光度计的生产厂家及使用者提供激发光源筛选依据，可为非色散原子荧光激发光源生产企业提供改进方向，对非色散原子荧光法测量结果的分析有重要意义。
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公开(公告)号：CN109556721B
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN201811266616.8
申请日：2018-10-29
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
IPC: G01J3/46
Abstract: 本申请提供一种检测色片的方法，包括：计算至少包括一个工作色片与标准色片图像颜色的色差值；记录工作色片与标准色片图像颜色的色差值；获得工作色片与标准色片图像，根据所述标准色片图像判断所述工作色片是否合格并计算判断所述工作色片的合格率百分比；获得所述计算判断所述工作色片的合格率百分比与所述工作色片与所述标准色片图像颜色的色差值的曲线关系图；根据所述曲线关系图获得初始色差值阈值，根据所述初始色差值阈值对计算的色差值进行判断：根据计算的色差值对初始色差值阈值进行优化调整。该方法将工作色片测试判断结果与色差值进行关联获得曲线关系图，之后对关联的曲线关系图优化调整，使测量的结果更具备客观性与准确性。
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公开(公告)号：CN107014748A
公开(公告)日：2017-08-04
申请号：CN201710238893.7
申请日：2017-04-13
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
IPC: G01N21/01
CPC classification number: G01N21/01 , G01N2201/061
Abstract: 本发明公开了一种高照度光源箱。包括：箱体、高光强LED灯、LED驱动电源、多功能调制器、控制面板和无线显示控制发射装置。实现了照明环境高照度和频率可调的功能。照度和频率的调节可以通过控制面板调节，或通过无线显示控制发射器来调节。本发明的有益效果是：为高速摄影图像采集与显示器图像质量检测提供一种标准样品环境照明系统，照度最高达到105lx，频率由(1～200)Hz连续可调，填补了国内市场空白。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106404168A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201610859483.X
申请日：2016-09-29
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种获得激光功率计不同波长修正系数的方法。通过测量功率计某一波长下的修正系数，并结合测量功率计探测器光谱相应曲线，来获得不同波长下功率计的修正系数，使其能用于其相应范围内各种波长激光的功率准确测量。本发明的有益效果是：该项目研究成果为激光功率计使用单位提供一种获得不同光源下修正系数的方法，减少其在不同波长下的校准工作量，降低校准成本；避免了只能用于被校准波长的局限性，扩大激光功率计精准测量的工作范围；弥补了校准用激光源个数有限的不足，为新型波长激光源的准确测量提供了可能性，在激光功率精准测量领域具有重要意义。
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公开(公告)号：CN105157953A
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201510483975.9
申请日：2015-08-10
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
Abstract: 本发明公开了非色散原子荧光激发光源纯度检测的方法。所述检测方法是通过研制出的原子荧光光源检测的标准装置(包括适用于紫外区的专用小型光谱探测的部件、自动控制系统)，结合数据采集处理分析软件，制定非色散原子荧光激发光源的标准数据图谱库(12种元素)，通过去除背景噪声，再与标准图谱进行比对，来实现原子荧光激发光源元素的确认和纯度检测。本发明的有益效果是：该项目研究成果可为非色散原子荧光激发光源生产企业提供改进方向，为非色散原子荧光光度计的生产厂家及使用者提供激发光源筛选依据，对提高非色散原子荧光法测量结果的可靠性具有重要意义。
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公开(公告)号：CN109556721A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201811266616.8
申请日：2018-10-29
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
IPC: G01J3/46
CPC classification number: G01J3/463
Abstract: 本申请提供一种检测色片的方法，包括：计算至少包括一个工作色片与标准色片图像颜色的色差值；记录工作色片与标准色片图像颜色的色差值；获得工作色片与标准色片图像，根据所述标准色片图像判断所述工作色片是否合格并计算判断所述工作色片的合格率百分比；获得所述计算判断所述工作色片的合格率百分比与所述工作色片与所述标准色片图像颜色的色差值的曲线关系图；根据所述曲线关系图获得初始色差值阈值，根据所述初始色差值阈值对计算的色差值进行判断：根据计算的色差值对初始色差值阈值进行优化调整。该方法将工作色片测试判断结果与色差值进行关联获得曲线关系图，之后对关联的曲线关系图优化调整，使测量的结果更具备客观性与准确性。
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公开(公告)号：CN205209743U
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201520595138.0
申请日：2015-08-10
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
IPC: G01M11/02
Abstract: 本专利公开了非色散原子荧光激发光源杂质检测装置。所述装置包括：暗箱机壳、光源固定支架、光源电控装置、透镜、衰减窗、紫外光谱探测部件和电脑处理器。暗箱机壳关闭后无杂散光进入，光源固定支架固定被测光源，有螺丝和压片可根据被测灯作适当调节，根据光源的不同强度配合使用透镜和衰减窗，有电脑处理器处理检测数据，能够直接给出光源是否含杂和杂质元素的确认等测试结果。本实用新型的有益效果是：该项目研究成果为非色散原子荧光光度计的生产厂家及使用者提供激发光源筛选依据，可为非色散原子荧光激发光源生产企业提供改进方向，对非色散原子荧光法测量结果的分析有重要意义。
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公开(公告)号：CN216954391U
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202220312387.4
申请日：2022-02-16
Applicant: 北京市计量检测科学研究院(北京市能源计量监测中心)
Abstract: 本实用新型公开了一种便携式光学三维扫描设备校准装置，包括一体式金属框架、夹持架，校准球棒；夹持架的一端与一体式金属框架拆卸连接，夹持架的另一端夹持校准球棒；夹持架包括H形架体，H形架体的上端设置有第一固紧结构，H形架体的下端设置有第二固紧结构；该便携式光学三维扫描设备校准装置，可配合各种距离尺寸的校准球棒，便于调整不同的尺寸参数，适用于不同扫描范围的光学三维扫描设备，能够全面有效的对光学三维扫描设备进行校准，装置结构简单便携，制造成本低，稳定性好，便于现场检测。
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