电子器件及制备方法、测试电路及制备方法、测试方法

    公开(公告)号:CN117185252A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202311161764.4

    申请日:2023-09-08

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本公开提供了电子器件及制备方法、测试电路及制备方法、测试方法,电子器件包括基底和形成于基底表面的纳米电极对,纳米电极对至少包括两个纳米电极,两个纳米电极之间具有纳米间隙,两个纳米电极相向地布置。通过改变纳米电极的组成及形貌参数,或在纳米电极表面修饰形成包覆层来稳定纳米电极在界面处的原子,降低原子摆脱晶格束缚并在基底表面定向运动的可能性;或者刻蚀纳米间隙底部的二氧化硅基底,阻断原子的迁移路径。从而有效抑制原子迁移,实现对载流子输运过程的调控。

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