超薄硅基粒子探测器及其制备方法

    公开(公告)号:CN101286536A

    公开(公告)日:2008-10-15

    申请号:CN200810105938.4

    申请日:2008-05-06

    Applicant: 北京大学

    CPC classification number: Y02P70/521

    Abstract: 本发明公开了一种超薄硅基粒子探测器及其制备方法。本发明探测器包括硅基片,硅基片上的探测窗口以及硅基片和探测窗口之外的介质层;所述探测窗口包括P区,N区以及夹在两者之间的硅层;所述P区周围设有保护环,保护环和P区不相接触;P区上方还设有基质层形成的缓冲台阶;N区优选通过TMAH腐蚀法形成,其外形呈倒圆台状,侧面和底面的夹角为54.74°;P区和N区表层均设有铝层。本发明还公开了所述探测器的制备方法。本发明探测器可很好地作为粒子鉴别的ΔE探测器应用于空间探测,核物理,医学检测和环境监测等领域。

    一种光电检测频谱分析高分辨率指端脉搏波检测系统

    公开(公告)号:CN1216567C

    公开(公告)日:2005-08-31

    申请号:CN03119646.2

    申请日:2003-03-19

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明涉及一种指端脉搏波检测系统。探头内部用两种发光二极管作为光源,使用光电二极管做探测器。测量时将手指放在光源和探测器中间。检测主机电路包括:系统放大电路和数据采集电路两部分。通过电脑控制信号采集,并使用专用软件对采集数据进行分析,利用频谱分析的手段对脉搏波信号进行处理。该检测系统采用光电检测频谱分析方法,可以达到很高的分辨率。

    超薄硅基粒子探测器及其制备方法

    公开(公告)号:CN100594622C

    公开(公告)日:2010-03-17

    申请号:CN200810105938.4

    申请日:2008-05-06

    Applicant: 北京大学

    CPC classification number: Y02P70/521

    Abstract: 本发明公开了一种超薄硅基粒子探测器及其制备方法。本发明探测器包括硅基片,硅基片上的探测窗口以及硅基片和探测窗口之外的介质层;所述探测窗口包括P区,N区以及夹在两者之间的硅层;所述P区周围设有保护环,保护环和P区不相接触;P区上方还设有基质层形成的缓冲台阶;N区优选通过TMAH腐蚀法形成,其外形呈倒圆台状,侧面和底面的夹角为54.74°;P区和N区表层均设有铝层。本发明还公开了所述探测器的制备方法。本发明探测器可很好地作为粒子鉴别的ΔE探测器应用于空间探测,核物理,医学检测和环境监测等领域。

    硅/硅键合质量测试仪
    7.
    实用新型

    公开(公告)号:CN2363282Y

    公开(公告)日:2000-02-09

    申请号:CN98206564.7

    申请日:1998-07-03

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本实用新型是硅/硅键合质量测试仪。硅/硅直接键合技术广泛地应用于SOI(在绝缘层上的硅)材料的制造、不同材料之间的连接及体硅微机械传感器与执行器的制造。硅片键合界面空洞的检测是关键技术之一。本实用新型采用普通CCD摄像仪,普通光源,配以可变焦镜头,观测硅/硅直接键合样品,图像清晰,简单实用,成本较低。

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