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发明公开
关键检验特性缺陷率统计装置无效

公开(公告)号：CN110866219A

公开(公告)日：2020-03-06

申请号：CN201911113568.3

申请日：2019-11-14

Applicant: 北京京航计算通讯研究所

Inventor： 陈真 , 吴国材 , 郭小星 , 史旭升 , 杜贝娜 , 付高生 , 李大立 , 董丽娜 , 郭星辰

IPC: G06F17/18

Abstract: 本发明属于生产检验技术领域，具体涉及一种关键检验特性缺陷率统计装置。与现有技术相比较，本发明提出一种关键检验特性缺陷率的统计装置，能够区别对待各类检验特性对产品质量波动影响程度，同时提出了按照工序、产品、型号、单位四个维度进行统计的缺陷率统计装置，以便能更准确评价某单位的产品质量缺陷率情况。本发明的关键检验特性缺陷率统计装置按照失效程度对工序影响程度确定严酷度系数，实现缺陷率统计的加权系数，通过依次计算工序、产品、型号、单位缺陷值，并进行在线展示。

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