公开(公告)号：CN118824344A

公开(公告)日：2024-10-22

申请号：CN202410921140.6

申请日：2024-07-10

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 赵满怀 ,  张春花

IPC: G11C29/56 ,  G11C29/08 ,  G06F11/26

Abstract: 本发明公开了一种支持FLASH页替换及坏页测试的仿真器，仿真器包括坏页信息BAK区、FLASH接口处理模块、坏页信息随机产生模块、擦写读控制模块、坏页信息区、RDN数据区和MAIN数据区。仿真器在上电过程中随机产生坏页信息区数据同时把坏页信息区数据读到坏页信息BAK区，FLASH控制器在擦写读操作时依据坏页信息BAK区内容控制对RDN数据区或MAIN数据区擦写读操作。通过仿真器软件修改坏页信息BAK区内容，实现RDN页与MAIN坏页轮换遍历，完成FLASH控制器坏页替换机制的功能测试。本发明仿真器满足正常情况下的FLASH擦写读功能，同时支持MAIN区最多4个坏页的FLASH功能仿真。本发明便于软件程序调试和坏页替换功能测试，提高了FLASH产品的开发和测试效率。

公开(公告)号：CN118362862A

公开(公告)日：2024-07-19

申请号：CN202410452949.9

申请日：2024-04-16

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 杨雅雯 ,  张楠 ,  王延斌 ,  张春花

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/317 ,  G01R31/3185 ,  G11C29/56

Abstract: 本发明属于芯片测试技术领域，具体涉及基于芯片系统测试的故障检测定位方法及系统。本发明中对芯片分别进行功能测试、内部逻辑测试以及存储器测试，将实测结果与预期结果进行对比和差异性分析；将差异性分析结果与芯片内部节点状态相结合，缩小故障范围，得到故障候选位置列表；提取故障特征，将其作为故障定位算法的输入，通过故障定位算法输出故障评分最高的故障候选位置，并将其定位为最终的故障源。本发明基于芯片系统测试结果，通过对比和分析芯片实测结果与预期结果的差异，运用故障算法进一步缩小故障范围，精确定位到芯片内部微小的、非直观的故障信号。

公开(公告)号：CN116627858A

公开(公告)日：2023-08-22

申请号：CN202310395607.3

申请日：2023-04-13

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 张洪波 ,  张春花

IPC: G06F13/10

Abstract: 本发明介绍一种支持异步通信接口的仿真器,涉及到芯片仿真调试领域。本发明的仿真器包括芯片功能调试模块、芯片功能仿真模块、寄存器模块、时序接口模块共4部份，复用芯片的系统RAM用于存放通信接口收发的数据，增加寄存器模块和时序接口模块，实现一个异步通信的并行主接口。仿真器采用了主从设备相互握手的异步并行的接口设计，兼容各种速度的接口设备的同时，最大程度的提升了通信速率。本发明设计一种支持异步通信接口的仿真器，可以实现调试功能的接口扩展，加快芯片程序的调试速度，提升开发效率。

公开(公告)号：CN220137680U

公开(公告)日：2023-12-05

申请号：CN202320816913.5

申请日：2023-04-13

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 张洪波 ,  张春花

IPC: G06F11/27 ,  G06F11/22 ,  G06F13/10 ,  G06F13/42

Abstract: 本发明介绍一种支持异步通信接口的仿真器,涉及到芯片仿真调试领域。本发明的仿真器包括芯片功能调试模块、芯片功能仿真模块、寄存器模块、时序接口模块共4部份，复用芯片的系统RAM用于存放通信接口收发的数据，增加寄存器模块和时序接口模块，实现一个异步通信的并行主接口。仿真器采用了主从设备相互握手的异步并行的接口设计，兼容各种速度的接口设备的同时，最大程度的提升了通信速率。本发明设计一种支持异步通信接口的仿真器，可以实现调试功能的接口扩展，加快芯片程序的调试速度，提升开发效率。