公开(公告)号：CN119066858A

公开(公告)日：2024-12-03

申请号：CN202411150203.9

申请日：2024-08-21

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 唐庆云 ,  刘俊邦 ,  陈逢荣 ,  陈荻云 ,  张少锋 ,  张洪彬 ,  郑南飞

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/04

Abstract: 本申请涉及一种密封圈的寿命预测方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取密封圈处于工作状态时的第一状态数据，以及处于停放状态时的第二状态数据；根据第一状态数据、第二状态数据、以及敏感性能参数对应的失效值，确定密封圈的工作寿命和停放寿命；确定密封圈处于工作状态与处于停放状态的时长比例；根据密封圈的工作寿命、停放寿命、以及时长比例，预测得到密封圈的使用寿命。采用本方法能够结合密封圈工作状态和停放状态等不同的使用状态，给出预期使用条件下的寿命计算结果，提升了寿命预测结果的合理性和准确性。

公开(公告)号：CN117607584A

公开(公告)日：2024-02-27

申请号：CN202311579656.9

申请日：2023-11-24

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 张少锋 ,  张洪彬 ,  唐庆云 ,  刘俊邦 ,  陈荻云 ,  孙立军 ,  张铮 ,  王春辉

IPC: G01R31/00

Abstract: 本申请涉及一种环境效应数据确定方法和装置。所述方法包括：根据目标产品的实际投放需求，确定所构建的模拟混合环境中各单一环境的模拟顺序；根据所述模拟顺序和所构建的模拟混合环境中各单一环境，构建所述目标产品的目标模拟环境；在所述目标模拟环境中，对所述目标产品的运行状态进行模拟，得到所述目标产品的目标环境效应数据；其中，所述模拟混合环境是根据样本产品的产品特性和所述样本产品所在实际混合环境中各单一环境的样本环境数据构建的；所述样本产品和所述目标产品属于同一类型产品。采用本方法能够考虑产品的实际投放需求，提高了获得的环境效应数据的准确性和实用性。

公开(公告)号：CN117556614A

公开(公告)日：2024-02-13

申请号：CN202311522677.7

申请日：2023-11-15

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 张少锋 ,  唐庆云 ,  张洪彬 ,  陈荻云 ,  郑南飞 ,  孙立军 ,  张铮 ,  王春辉

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/04

Abstract: 本申请涉及一种剩余寿命确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取目标产品所在实际环境的目标环境数据，所述目标产品的初始性能数据，以及所述目标产品在所述实际环境下的目标时长；将所述目标环境数据和所述目标时长和所述初始性能数据输入至性能确定模型中，得到所述目标产品受所在实际环境影响下的目标性能数据；根据所述目标性能数据，确定所述目标产品的剩余寿命。采用本方法能够提高产品剩余寿命预测结果的准确性。

公开(公告)号：CN117390384A

公开(公告)日：2024-01-12

申请号：CN202311263400.7

申请日：2023-09-27

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 张洪彬 ,  唐庆云 ,  张少锋 ,  李坤兰 ,  陈荻云 ,  张铮 ,  苏少燕 ,  郑南飞 ,  闫杰

IPC: G06F18/20 ,  G06Q10/063 ,  G06Q10/0639

Abstract: 本申请涉及一种环境严酷度等级的确定方法、装置、设备和存储介质。所述方法包括：获取目标区域在目标时段内至少两个环境影响因素的实测环境数据；根据各环境影响因素对应的严酷度分级标准，以及各环境影响因素的实测环境数据，确定各环境影响因素在其对应的每一严酷度等级下的作用时长；根据各环境影响因素在其对应的每一严酷度等级下的作用时长，确定各环境影响因素的目标严酷度值；根据各环境影响因素的目标严酷度值，确定所述目标区域的环境严酷度等级。采用本方法能够提高气候环境严酷度等级评价结果的有效性和指导性。

公开(公告)号：CN221037823U

公开(公告)日：2024-05-28

申请号：CN202322620382.5

申请日：2023-09-26

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 刘俊邦 ,  唐庆云 ,  张少锋 ,  张洪彬 ,  陈荻云 ,  王才菀 ,  陈逢荣 ,  于宏飞 ,  郑南飞 ,  龚雨荷

IPC: G01M3/02 ,  G01M13/005

Abstract: 本申请涉及一种O型密封圈径向密封的试验工装，包括第一密封座与第二密封座，第一密封座具有第一安装槽与注液孔，注液孔与第一安装槽相连通，第二密封座设有安装部，安装部用于装设O型密封圈，且安装部可插设在第一安装槽内，使得O型密封圈抵持于安装部外壁及第一密封座的第一安装槽内壁，注液孔用于注入液体或通入压缩气体。上述试验工装，安装部用于插设在第一安装槽内，使得O型密封圈抵持于安装部外壁及第一密封座的第一安装槽内壁，模拟了O型密封圈的径向密封的效果，并通过注液孔的设置，使得试验工装能够注入液体或通入压缩气体（可加热），以模拟O型密封圈的在一定温度、湿度或压强条件下的实际工况，从而保证试验效果。