公开(公告)号：CN111340349B

公开(公告)日：2023-09-05

申请号：CN202010108040.3

申请日：2020-02-21

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 吴凡 ,  聂国健 ,  张剑伟 ,  胡宁 ,  陈冰泉

IPC: G06Q10/0639 ,  G06F30/20

Abstract: 本申请涉及一种产品可靠性评估方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取并根据各预设元器件的第一故障仿真结果数据中各故障仿真结果数据的标识，得到第二故障仿真结果数据；对第二故障仿真结果数据进行分布拟合，确定各预设元器件的故障分布函数；根据预设第一随机数集合和故障分布函数进行数据抽样，得到各PCBA的故障分布函数和故障分布参数值集合；根据预设第二随机数集合和各PCBA的故障分布函数进行数据抽样，得到产品的故障分布函数和故障分布参数值集合；根据各PCBA的故障分布函数和故障分布参数值集合以及产品的故障分布函数和故障分布参数值集合，得到产品可靠性评估结果。采用本方法能够准确地对产品进行可靠性评估。

公开(公告)号：CN111340349A

公开(公告)日：2020-06-26

申请号：CN202010108040.3

申请日：2020-02-21

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 吴凡 ,  聂国健 ,  张剑伟 ,  胡宁 ,  陈冰泉

IPC: G06Q10/06 ,  G06F30/20

Abstract: 本申请涉及一种产品可靠性评估方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取并根据各预设元器件的第一故障仿真结果数据中各故障仿真结果数据的标识，得到第二故障仿真结果数据；对第二故障仿真结果数据进行分布拟合，确定各预设元器件的故障分布函数；根据预设第一随机数集合和故障分布函数进行数据抽样，得到各PCBA的故障分布函数和故障分布参数值集合；根据预设第二随机数集合和各PCBA的故障分布函数进行数据抽样，得到产品的故障分布函数和故障分布参数值集合；根据各PCBA的故障分布函数和故障分布参数值集合以及产品的故障分布函数和故障分布参数值集合，得到产品可靠性评估结果。采用本方法能够准确地对产品进行可靠性评估。