准单能X射线标定平台
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106646585B

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN201710053080.0

    申请日:2017-01-24

    IPC分类号: G01T7/00

    摘要: 本发明公开了一种准单能X射线标定平台,包括防护箱、真空腔室和X射线谱仪,防护箱内设有X射线管,对应其射出窗口设置有荧光片,经荧光片激发形成的单能荧光X射线进入真空腔室,真空腔室的两个端壁上对称设置有第二通孔,两个第二通孔的位置均密封安装有隔窗,待标定物放置在真空腔室内,X射线谱仪安装在远离防护箱一端的第二通孔处。采用以上结构,比较容易获得单能状态的X射线,消除韧致辐射影响,单能荧光X射线约束后在发散对真空腔室的物体进行标定,减弱了X射线因远距离传播而衰减的影响程度,X射线谱仪紧贴真空腔室的隔窗进行测量,进一步有效提高所测源强的精度值,从而实现对物体进行精确标定,具有极大的科研应用价值。

    可调X射线源
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106658930B

    公开(公告)日:2018-04-10

    申请号:CN201710050479.3

    申请日:2017-01-23

    IPC分类号: H05G1/02 H01J35/16

    摘要: 本发明公开了一种可调X射线源,包括防护箱以及设置在该防护箱内的X射线管,在所述防护箱内设有可转动的托盘和可移动的光阑,在所述防护箱上设有准直部件,所述X射线管上具有出射窗口,在所述托盘上设有至少两块荧光片,出射窗口出射的X射线依次经过荧光片、光阑和准直部件后向防护箱外出射,所述荧光片均为单质金属材料,从其中一块荧光片出射的荧光X射线的能点大于或小于从其余任一块荧光片出射的荧光X射线的能点。采用本发明提供的可调X射线源,结构新颖,易于实现,能够出射能点可调的单能荧光X射线,并且近似呈点出射,空间分布均匀,荧光X射线的发散角及强度均可调。

    多分辨率透射柱面弯晶谱仪

    公开(公告)号:CN106842281A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201710129113.5

    申请日:2017-03-06

    IPC分类号: G01T1/36

    CPC分类号: G01T1/362

    摘要: 本发明公开了一种多分辨率透射柱面弯晶谱仪,包括箱体,在箱体内依次同轴设置有柱面弯晶分析器、后置铅光阑、以及可透光的台阶闪烁体和X射线记录装置;所述后置铅光阑中部设有狭缝,该狭缝用于阻挡直穿的X射线,而供经柱面弯晶分析器分光的X射线透过;所述台阶闪烁体靠近后置铅光阑的一端沿其轴向至少设有两级台阶,每个所述台阶的端面均具有将衍射后的X射线的衍射线转化成可见光后,还保持其谱分辨率的晶体薄层。采用以上结构,通过台阶型闪烁体实现多分辨率和大测谱范围的X射线的兼顾测量,满足更多测量场合,同时实现实时获取捕捉X射线谱图像,能快速看到测量结果,构思新颖,具有极大的科研应用价值。

    一种基于光学折射率变化的超宽带中子探测器

    公开(公告)号:CN107894608B

    公开(公告)日:2023-09-26

    申请号:CN201711275981.0

    申请日:2017-12-06

    发明人: 易涛 苏明

    IPC分类号: G01T3/00 G01T3/08

    摘要: 本发明公开了一种基于光学折射率变化的超宽带中子探测器,属于核辐射探测技术领域,包括:由顺序固定的碳氢材料层、碘化铯层、半导体和衬底组成的探测单元、高压电源及中子束;在碳氢材料层和衬底的外表面上分别电镀第一金属膜和第二金属膜;第一金属膜与高压电源的负极电性连接;中子束入射到所述探测单元后,中子与碳氢材料层中的质子发生碰撞,产生反冲质子,反冲质子进入碘化铯层后产生自由电子;通过第一金属膜和第二金属膜之间负高压的电场作用将碘化铯层中产生的自由电子注入到半导体中,引起半导体的光学折射率变化;该探测器能够将中子束转化为半导体材料的折射率变化,利用光学干涉测量半导体材料的折射率变化获得中子束的强度信息。

    适用于球型组件的涡流检测装置

    公开(公告)号:CN112684000A

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202110054155.3

    申请日:2021-01-15

    IPC分类号: G01N27/90 G01N27/9093

    摘要: 本发明公开了一种适用于球型组件的涡流检测装置,包括底座,所述底座上安装有转轴,该转轴能够在驱动机构带动下旋转和升降,其上端设有用于安装球型组件的定位座,所述底座上固定安装有呈弧形构造的支架,所述支架上分布有伸缩式涡流探头,所述伸缩式涡流探头的探头组件均朝向支架的圆心,并能够朝靠近或远离该圆心的方向运动。本发明的有益效果是:在对球型样品进行涡流检测时,具有定位安装方便和测量效率高的技术优势。转轴和探头组件均能够沿其所在的轴线伸缩运动,能够适用于检测不同尺寸的球型样品,通用性较好。

    一种集成式激光诱导声表面波缺陷检测装置

    公开(公告)号:CN108037077A

    公开(公告)日:2018-05-15

    申请号:CN201711276551.0

    申请日:2017-12-06

    发明人: 易涛 苏明

    IPC分类号: G01N21/17

    摘要: 本发明公开了一种集成式激光诱导声表面波缺陷检测装置,属于无损检测技术领域,包括:探测头、光纤束及探测器;所述探测头一侧端面的中心设有一个泵浦激光发射口,沿泵浦激光发射口周向均匀分布有探测激光口;探测头的泵浦激光发射口通过光纤束中与之对应的光纤与激光光源连接,探测头的每个探测激光口通过光纤束中与之对应的光纤分别与对应的激光光源及对应的探测器连接;所述泵浦激光发射口用于发射泵浦激光;所述探测激光口用于发射探测激光,并接收反射回来的探测激光传输给对应的探测器;该装置能够利用激光产生声表面波并采用激光探测的方式对被检测物体进行表面缺陷检测,缺陷检测效率高且操作方便。

    一种基于光学折射率变化的超宽带中子探测器

    公开(公告)号:CN107894608A

    公开(公告)日:2018-04-10

    申请号:CN201711275981.0

    申请日:2017-12-06

    发明人: 易涛 苏明

    IPC分类号: G01T3/00 G01T3/08

    CPC分类号: G01T3/00 G01T3/08

    摘要: 本发明公开了一种基于光学折射率变化的超宽带中子探测器,属于核辐射探测技术领域,包括:由顺序固定的碳氢材料层、碘化铯层、半导体和衬底组成的探测单元、高压电源及中子束;在碳氢材料层和衬底的外表面上分别电镀第一金属膜和第二金属膜;第一金属膜与高压电源的负极电性连接;中子束入射到所述探测单元后,中子与碳氢材料层中的质子发生碰撞,产生反冲质子,反冲质子进入碘化铯层后产生自由电子;通过第一金属膜和第二金属膜之间负高压的电场作用将碘化铯层中产生的自由电子注入到半导体中,引起半导体的光学折射率变化;该探测器能够将中子束转化为半导体材料的折射率变化,利用光学干涉测量半导体材料的折射率变化获得中子束的强度信息。

    可调X射线源
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106658930A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201710050479.3

    申请日:2017-01-23

    IPC分类号: H05G1/02 H01J35/16

    CPC分类号: H05G1/02 H01J35/16

    摘要: 本发明公开了一种可调X射线源,包括防护箱以及设置在该防护箱内的X射线管,在所述防护箱内设有可转动的托盘和可移动的光阑,在所述防护箱上设有准直部件,所述X射线管上具有出射窗口,在所述托盘上设有至少两块荧光片,出射窗口出射的X射线依次经过荧光片、光阑和准直部件后向防护箱外出射,所述荧光片均为单质金属材料,从其中一块荧光片出射的荧光X射线的能点大于或小于从其余任一块荧光片出射的荧光X射线的能点。采用本发明提供的可调X射线源,结构新颖,易于实现,能够出射能点可调的单能荧光X射线,并且近似呈点出射,空间分布均匀,荧光X射线的发散角及强度均可调。

    准单能X射线标定平台
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106646585A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201710053080.0

    申请日:2017-01-24

    IPC分类号: G01T7/00

    CPC分类号: G01T7/005

    摘要: 本发明公开了一种准单能X射线标定平台,包括防护箱、真空腔室和X射线谱仪,防护箱内设有X射线管,对应其射出窗口设置有荧光片,经荧光片激发形成的单能荧光X射线进入真空腔室,真空腔室的两个端壁上对称设置有第二通孔,两个第二通孔的位置均密封安装有隔窗,待标定物放置在真空腔室内,X射线谱仪安装在远离防护箱一端的第二通孔处。采用以上结构,比较容易获得单能状态的X射线,消除韧致辐射影响,单能荧光X射线约束后在发散对真空腔室的物体进行标定,减弱了X射线因远距离传播而衰减的影响程度,X射线谱仪紧贴真空腔室的隔窗进行测量,进一步有效提高所测源强的精度值,从而实现对物体进行精确标定,具有极大的科研应用价值。